特許

J-GLOBAL ID：200903027963398493

計測装置、補正データ生成装置、検査装置、及び情報記録媒体、並びに計測方法、補正データ生成方法、及び検査方法

発明者： 城 宏明 ,  河西 利幸 ,  堀内 浩 ,  野澤 武史
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  藤綱 英吉 ,  須澤 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-054184
公開番号（公開出願番号）：特開2005-242162
出願日： 2004年02月27日
公開日（公表日）： 2005年09月08日
要約：

【課題】 有機ELディスプレイの画素ごとの輝度ばらつきを精度よく高速に測定し、補正する。【解決手段】 補正データ生成装置2は、行ごとに分割された各ブロック及び列ごとに分割された各ブロックを点灯させる画像パターン信号GSを生成して電気光学装置1へ供給する。そして、電流計500を用いて電源電流が計測され、その計測結果がブロック電流Ibとしてブロック電流記憶部600に記憶される。補正データ生成回路700は2系統のブロック電流Ibに基づいて画素ごとの補正データDhを生成し、これを補正データ記憶部800に記憶させる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

電流によって駆動される複数の電気光学素子がマトリクス状に配列された画素領域を備えた電気光学装置の特性を計測する計測装置であって、 前記画素領域を分割した複数のブロックに各々対応する画像パターンを順次生成して前記電気光学装置へ出力する画像パターン生成手段と、 前記ブロック毎に前記電気光学素子に供給される電流をブロック電流として計測する電流計測手段と、 を備えたことを特徴とする計測装置。

IPC (7件)：

G09G3/30 ,  G01R31/00 ,  G09F9/00 ,  G09G3/20 ,  H05B33/10 ,  H05B33/12 ,  H05B33/14

FI (10件)：

G09G3/30 K ,  G01R31/00 ,  G09F9/00 352 ,  G09G3/20 641D ,  G09G3/20 641P ,  G09G3/20 642A ,  G09G3/20 670Q ,  H05B33/10 ,  H05B33/12 Z ,  H05B33/14 A

Fターム (24件)：

2G036AA28 ,  2G036BA32 ,  2G036CA10 ,  3K007AB18 ,  3K007BA06 ,  3K007DA01 ,  3K007DB03 ,  3K007FA00 ,  5C080AA06 ,  5C080BB05 ,  5C080DD05 ,  5C080DD15 ,  5C080EE29 ,  5C080FF11 ,  5C080JJ02 ,  5C080JJ03 ,  5C080JJ04 ,  5C080JJ05 ,  5C080JJ07 ,  5G435AA19 ,  5G435BB05 ,  5G435CC09 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 表示パネルの駆動装置及び駆動方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-401814   出願人：パイオニア株式会社

審査官引用 (5件)

• 有機EL基板の検査方法及び有機EL表示装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-302752   出願人：京セラ株式会社
• 表示器、表示機能検査装置および検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-168397   出願人：小糸工業株式会社
• 表示装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-298251   出願人：松下電器産業株式会社
• ガンマ補正回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-106380   出願人：株式会社日立製作所
• 画像処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-116722   出願人：株式会社日立製作所