特許
J-GLOBAL ID：200903028740219720
表面形状測定装置、及びその方法、並びに表面状態図化装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
宮川 貞二 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-230368
公開番号（公開出願番号）：特開2003-042730
出願日： 2001年07月30日
公開日（公表日）： 2003年02月13日
要約：
【要約】【課題】 遺跡埋蔵物や人体等の測定対象物の表面形状や模様を迅速に測定できる表面形状測定装置を提供すること。【解決手段】 対象物1をステレオ撮影するステレオ撮影部3と、ステレオ撮影部3と対象物1との位置関係を相対的に移動させる相対位置変更部4と、ステレオ撮影部3が対象物1を撮影する複数の方向におけるステレオ撮影パラメータを記憶する手段5と、前記ステレオ撮影パラメータの記憶された前記複数の方向から、ステレオ撮影部3により対象物1を撮影して、対象物1のステレオ画像を生成するステレオ画像生成手段6と、対象物1のステレオ画像から対象物1の表面形状を測定する表面形状演算処理手段7とを備えている。
請求項（抜粋）：
対象物をステレオ撮影するステレオ撮影部と;前記ステレオ撮影部と前記対象物との位置関係を相対的に移動させる相対位置変更部と;前記ステレオ撮影部が前記対象物を撮影する複数の方向におけるステレオ撮影パラメータを記憶する手段と;前記ステレオ撮影パラメータの記憶された前記複数の方向から、前記ステレオ撮影部により前記対象物を撮影して、前記対象物のステレオ画像を生成する手段と;前記対象物のステレオ画像から前記対象物の表面形状を測定する手段とを備える;表面形状測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G01C 3/06
, G06T 1/00 315
G01C 3/06 V
, G06T 1/00 315
, G01B 11/24 K
2F065AA04
, 2F065AA49
, 2F065AA51
, 2F065BB24
, 2F065BB27
, 2F065CC11
, 2F065CC16
, 2F065DD06
, 2F065FF05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065KK02
, 2F065MM01
, 2F065MM04
, 2F065PP13
, 2F065QQ04
, 2F065QQ18
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065QQ38
, 2F065QQ42
, 2F065RR08
, 2F065SS02
, 2F065UU05
, 2F112AC06
, 2F112BA05
, 2F112CA08
, 2F112FA07
, 2F112FA21
, 2F112FA31
, 2F112FA36
, 2F112FA38
, 2F112FA39
, 2F112FA45
, 5B057AA20
, 5B057BA02
, 5B057BA19
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA13
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB06
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC01
, 5B057CD14
, 5B057CE11
, 5B057CE15
, 5B057DA07
, 5B057DB03
, 5B057DB05
, 5B057DB09
, 5B057DC09
, 5B057DC34
