特許
J-GLOBAL ID:200903029793107238
CVD装置のクリーニング方法およびそのためのクリーニング装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴木 俊一郎 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-082840
公開番号(公開出願番号):特開2002-280376
出願日: 2001年03月22日
公開日(公表日): 2002年09月27日
要約:
【要約】【課題】 成膜工程の際に反応チャンバーの内壁、電極などの表面に付着、堆積したSiO2、Si3N4などの副生成物を、効率良く除去することができ、排出されるクリーニングガスの排出量も極めて低く、地球温暖化などの環境へ与える影響も少なく、コストも低減できるCVD装置におけるクリーニング方法を提供する。【解決手段】 CVD装置によって基板の成膜処理を行なった後に、含フッ素化合物を含んだフッ素系のクリーニングガスをリモートプラズマ発生装置によってプラズマ化し、プラズマ化したクリーニングガスを、反応チャンバー内に導入して、反応チャンバー内に付着した副生成物を除去する。
請求項(抜粋):
反応チャンバー内に、反応ガスを供給するとともに、反応チャンバー内に配置した基材表面上に堆積膜を形成するCVD装置において、前記CVD装置によって基板の成膜処理を行なった後に、含フッ素化合物を含んだフッ素系のクリーニングガスをリモートプラズマ発生装置によってプラズマ化し、前記プラズマ化したクリーニングガスを、反応チャンバー内に導入して、反応チャンバー内に付着した副生成物を除去することを特徴とするCVD装置のクリーニング方法。
IPC (5件):
H01L 21/31
, B01J 19/08
, C23C 16/44
, H01L 21/3065
, H05H 1/46
FI (5件):
H01L 21/31 B
, B01J 19/08 H
, C23C 16/44 J
, H05H 1/46 M
, H01L 21/302 N
Fターム (47件):
4G075AA24
, 4G075AA57
, 4G075BA05
, 4G075BC04
, 4G075BD03
, 4G075BD05
, 4G075BD14
, 4G075CA47
, 4G075CA51
, 4G075CA65
, 4G075DA01
, 4G075EB01
, 4G075EB42
, 4G075EB44
, 4K030DA06
, 4K030FA03
, 4K030JA03
, 4K030JA06
, 5F004AA15
, 5F004BA03
, 5F004BA04
, 5F004BB11
, 5F004BB18
, 5F004BB28
, 5F004BD04
, 5F004DA00
, 5F004DA01
, 5F004DA02
, 5F004DA03
, 5F004DA15
, 5F004DA16
, 5F004DA17
, 5F004DA18
, 5F004DA19
, 5F004DA20
, 5F045AA08
, 5F045AE17
, 5F045AE19
, 5F045AE21
, 5F045AE23
, 5F045BB15
, 5F045DP03
, 5F045EB06
, 5F045EF05
, 5F045EH05
, 5F045EH13
, 5F045EH18
引用特許: