特許
J-GLOBAL ID：200903030214051941

プリント回路基板のクリーム半田印刷状態の検査装置および検査方法

発明者：
大塚 謙一

大塚 謙一 について


出願人/特許権者：
谷電機工業株式会社

谷電機工業株式会社 について


代理人 (1件)： 田宮 寛祉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-009910
公開番号（公開出願番号）：特開2007-192623
出願日： 2006年01月18日
公開日（公表日）： 2007年08月02日
要約：
【課題】プリント回路基板上に印刷されたクリーム半田の印刷状態を、簡単な構成かつ低コストで、高速にかつ高精度で検査することができるクリーム半田印刷状態の検査装置および検査方法を提供する。【解決手段】検査装置は、クリーム半田が印刷されたプリント回路基板10の印刷面におけるクリーム半田の印刷状態を検査する。プリント回路基板の印刷面に対して斜め方向からレーザ光を照射して高さ方向に濃淡場16が作られる検査領域10aを形成する照明装置11,12と、検査領域を撮像して撮像データを生成するCCDカメラ20と、2つの照明装置とCCDカメラから成る撮像系装置100が、プリント回路基板の印刷面を走査するように、相対的移動を生じさせる移動装置17と、撮像データに基づき検査領域でのクリーム半田の高さデータを算出する高さデータ算出手段31とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
クリーム半田が印刷されたプリント回路基板の印刷面におけるクリーム半田印刷状態を検査する検査装置において、 前記プリント回路基板の前記印刷面に対して斜め方向から第1レーザ光を照射し、これにより前記印刷面に対する高さ方向に前記第1レーザ光の濃淡場が作られる特定撮像領域を形成する第1照明装置と、 前記プリント回路基板の前記印刷面に対して斜め方向から第2レーザ光を照射し、これにより前記印刷面に対する高さ方向に前記第2レーザ光の濃淡場が作られる前記特定撮像領域を形成する第2照明装置と、 前記プリント回路基板の前記印刷面の前記特定撮像領域を撮像して撮像データを生成する1次元撮像装置と、 前記第1および第2の照明装置と前記1次元撮像装置から成る撮像系装置が、前記プリント回路基板の前記印刷面を走査するように、相対的移動を生じさせる移動装置と、 前記1次元撮像装置によって得られた撮像データに基づき前記特定撮像領域での前記クリーム半田の高さデータを算出する高さデータ算出手段と、 を備えることを特徴とするプリント回路基板のクリーム半田印刷状態の検査装置。
IPC (2件)：
G01N 21/956 ,  G01N 21/84
FI (2件)：
G01N21/956 B ,  G01N21/84 E
Fターム (20件)：
2G051AA65 ,  2G051AB11 ,  2G051BA01 ,  2G051BA04 ,  2G051BA08 ,  2G051BA10 ,  2G051BB09 ,  2G051BB11 ,  2G051BC01 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EA19 ,  2G051EB01 ,  2G051EC03 ,  2G051ED04 ,  2G051FA02 ,  2G051FA04
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (8件)
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