特許
J-GLOBAL ID：200903030333188823

異常診断装置、及び異常診断方法

発明者：
宮坂 孝範

宮坂 孝範 について

, 
武藤 泰之

武藤 泰之 について


出願人/特許権者：
日本精工株式会社

日本精工株式会社 について


代理人 (3件)： 小栗 昌平 ,  本多 弘徳 ,  市川 利光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-045019
公開番号（公開出願番号）：特開2009-020090
出願日： 2008年02月26日
公開日（公表日）： 2009年01月29日
要約：
【課題】機械設備に組み込まれた回転部品や摺動部品について、異常の有無の診断及び異常の部位の特定を精度良く行う。【解決手段】機械設備10の転がり軸受11から運転中に発生する振動を加速度センサ12で検出して信号処理器21に伝送し、デジタル信号に変換した後、エンベロープ分析及び周波数分析を行って周波数スペクトルのレベルを求めると共に、転がり軸受11の異常部位に起因する振動の異常周波数を所定の関係式に基づいて算出し、異常周波数に対応した周波数スペクトルのレベルを抽出する。そして、抽出した周波数スペクトルのレベルと、異常周波数の基本波及び高調波の周波数ごとに個別に設定されたしきい値とをそれぞれ比較照合し、その大小をそれぞれ判定することにより、異常の有無及び異常部位を診断する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
機械設備の回転部或いは摺動部から発生する信号を検出手段により検出し、この検出結果をエンベロープ分析及び周波数分析を行って実測データの周波数成分を求めると共に、前記回転部或いは前記摺動部の異常に起因する振動の異常周波数を所定の関係式に基づいて算出して、当該異常周波数に対応した前記実測データの周波数成分を抽出し、この抽出された周波数成分としきい値との比較照合を行うことにより、異常の有無の診断と、当該異常に該当する、前記回転部或いは前記摺動部の部位の特定と、を行う異常診断装置であって、 前記しきい値は、前記異常周波数の、基本波及び高調波の周波数ごとに個別に設定されている ことを特徴とする異常診断装置。
IPC (3件)：
G01M 19/00 ,  G01M 13/04 ,  G01H 17/00
FI (3件)：
G01M19/00 A ,  G01M13/04 ,  G01H17/00 A
Fターム (17件)：
2G024AC01 ,  2G024AD02 ,  2G024AD22 ,  2G024BA15 ,  2G024BA27 ,  2G024CA09 ,  2G024CA13 ,  2G024DA09 ,  2G024EA11 ,  2G024FA04 ,  2G064AA17 ,  2G064AB01 ,  2G064AB02 ,  2G064BA02 ,  2G064CC02 ,  2G064CC41 ,  2G064CC57
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 軸受診断装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-204168   出願人：三菱電機株式会社
  • 特許第3846560号公報
審査官引用 (3件)

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