特許
J-GLOBAL ID：200903030358360477

金属帯の表面処理皮膜付着量の測定装置及び測定方法

発明者：
馬場 伸壮

馬場 伸壮 について

, 
小川 剛史

小川 剛史 について


出願人/特許権者：
JFEスチール株式会社

JFEスチール株式会社 について


代理人 (1件)： 中濱 泰光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-016412
公開番号（公開出願番号）：特開2006-208013
出願日： 2005年01月25日
公開日（公表日）： 2006年08月10日
要約：
【課題】 金属帯の表面に形成されるPなどの軽元素を含む表面処理皮膜について、該皮膜中に含まれる軽元素の付着量を、蛍光X線分析装置を用いてオンライン分析できる付着量測定装置および測定方法を提供する。【解決手段】 表面に皮膜が形成された走行中の金属帯の皮膜付着量測定装置であって、走行中の金属帯に近接して配置され、該金属帯表面にX線を照射し、励起・放射される蛍光X線を検出する蛍光X線測定ヘッドと、前記蛍光X線測定ヘッドを該金属帯幅方向に往復動可能に支持する支持装置と、前記蛍光X線測定ヘッドの該金属帯走行方向上流に配置され、該金属帯の形状を検出する形状センサと、前記形状センサで検出した金属帯の形状が閾値を超えたときに前記蛍光X線測定ヘッドを該金属帯幅方向端部外方または板面から離れる方向に退避させる退避装置と、を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
その表面に皮膜が形成された走行中の金属帯の皮膜付着量測定装置であって、走行中の金属帯に近接して配置され、該金属帯表面にX線を照射し、励起・放射される蛍光X線を検出する蛍光X線測定ヘッドと、前記蛍光X線測定ヘッドを該金属帯幅方向に往復動可能に支持する支持装置と、前記蛍光X線測定ヘッドの該金属帯走行方向上流に配置され、該金属帯の形状を検出する形状センサと、前記形状センサで検出した金属帯の形状が閾値を超えたときに前記蛍光X線測定ヘッドを該金属帯幅方向端部外方または板面から離れる方向に退避させる退避装置と、を備えることを特徴とする付着量測定装置。
IPC (2件)：
G01N 23/223 ,  C23C 22/73
FI (2件)：
G01N23/223 ,  C23C22/73 A
Fターム (33件)：
2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001EA03 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001GA05 ,  2G001GA11 ,  2G001HA10 ,  2G001HA19 ,  2G001JA06 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001JA15 ,  2G001KA01 ,  2G001KA11 ,  2G001LA02 ,  2G001MA05 ,  2G001NA07 ,  2G001NA16 ,  2G001PA07 ,  2G001PA11 ,  2G001SA29 ,  4K026AA07 ,  4K026AA11 ,  4K026BA06 ,  4K026BA12 ,  4K026CA19 ,  4K026CA20 ,  4K026CA39 ,  4K026DA02 ,  4K026DA16
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (19件)
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