特許
J-GLOBAL ID:200903031288112698

塗布状態評価方法及び塗布状態評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岡村 俊雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-085742
公開番号(公開出願番号):特開2007-263599
出願日: 2006年03月27日
公開日(公表日): 2007年10月11日
要約:
【課題】 被塗装物の帯状の塗布領域に塗布材を連続的に塗布して帯状に形成された塗布膜の塗布状態を評価する場合、3次元曲面上に塗布膜が形成されている場合に、その曲面方向の変化を加味して、また、塗布材を塗布する塗布条件が変化する場合に、その塗布条件の変化を加味して、精度が良い適正な塗布状態の評価を、塗布領域をその長さ方向に複数分割した分割区間ごとに行う。 【解決手段】 塗布領域9をその長さ方向に複数分割した複数の分割区間を設定し、塗布領域9をその幅方向に複数分割して塗布領域9の長さ方向に連続して延びる複数の分割レーンを設定し、塗布領域9にスポット光20aを照射しその反射光を受光する検出ヘッド16をプライマ塗布膜5に沿って走査させ、複数の分割区間の各々について、検出ヘッド16で受光した光の受光データを複数の分割レーン別に処理し、これら受光データに基づいて塗布状態を評価する。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
被塗装物の帯状の塗布領域に塗布材を連続的に塗布して帯状に形成された塗布膜の少なくとも一部の塗布状態を評価する塗布状態評価方法において、 前記塗布領域をその長さ方向に複数分割した複数の分割区間を設定すると共に、少なくとも一部の複数の分割区間における塗布領域をその幅方向に複数分割して塗布領域の長さ方向に延びる複数の分割レーンを設定し、 前記塗布領域にその幅以上の幅の光を照射する光照射部とその反射光を受光する受光部とを有する検出ヘッドを、この検出ヘッドと被塗装物との相対移動を介して塗布領域の長さ方向に塗布膜に沿って走査させながら受光部で反射光を受光させ、 前記少なくとも一部の複数の分割区間の各々について、検出ヘッドの受光部で受光した光の受光データを複数の分割レーン別に処理し、これら受光データに基づいて塗布状態を評価することを特徴とする塗布状態評価方法。
IPC (3件):
G01B 11/06 ,  B05D 3/00 ,  B05C 11/00
FI (3件):
G01B11/06 Z ,  B05D3/00 D ,  B05C11/00
Fターム (31件):
2F065AA30 ,  2F065AA49 ,  2F065BB05 ,  2F065BB22 ,  2F065CC11 ,  2F065CC31 ,  2F065DD03 ,  2F065DD04 ,  2F065FF41 ,  2F065GG04 ,  2F065GG14 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ25 ,  2F065MM06 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ42 ,  2F065UU05 ,  4D075AC01 ,  4D075AC92 ,  4D075BB91Z ,  4D075DB03 ,  4D075DC13 ,  4D075EA05 ,  4D075EA41 ,  4F042AA09 ,  4F042BA27 ,  4F042DH09
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (19件)
  • 塗装検査方法及び塗装検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2001-236306   出願人:倉敷紡績株式会社
  • 特開昭61-242666
  • 特開平4-034305
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