特許
J-GLOBAL ID:200903031351615670
レーザアニール方法および薄膜トランジスタの製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-148393
公開番号(公開出願番号):特開2001-332493
出願日: 2000年05月19日
公開日(公表日): 2001年11月30日
要約:
【要約】【目的】液晶ディスプレイの画素スイッチ用いられる薄膜トランジスタ装置向けの多結晶シリコンを、歩留まりよく量産する装置および製造方法を提供する。【解決手段】ガラス基板上に非晶質シリコン半導体薄膜を堆積したガラス基板を移動ながらパルスレーザビームを照射することによって、多結晶シリコン半導体を生成するレーザアニール装置および薄膜トランジスタの製造方法において、ガラス基板O上に照射されるレーザビームLの断面ビーム形状が矩形であり、その長手方向の中心線を、移動されるガラス基板の画素に対応する領域が配列されて定義される直線に対して角度θだけ傾けることにより、粒径の均一な多結晶シリコンを得ることができる。
請求項(抜粋):
非晶質シリコン半導体薄膜を堆積したガラス基板を一定方向に移動させながらパルスレーザビームを照射することによって、非晶質シリコン半導体を、多結晶シリコン半導体に変移させるレーザアニール方法において、前記非晶質シリコン薄膜に照射されるレーザビームの形状が矩形であり、その長手方向の中心線を、前記ガラス基板の前記非晶質シリコン半導体が多結晶シリコン半導体に変移された後の画素に対応する領域が配列されて定義される直線に対して、角度θ傾けて前記レーザビームを照射することを特徴とするレーザアニール方法。
IPC (5件):
H01L 21/20
, G02F 1/1368
, G09F 9/00 338
, H01L 29/786
, H01L 21/336
FI (4件):
H01L 21/20
, G09F 9/00 338
, G02F 1/136 500
, H01L 29/78 627 G
Fターム (49件):
2H092JA24
, 2H092KA04
, 2H092KA07
, 2H092MA30
, 2H092MA35
, 2H092NA24
, 2H092NA29
, 2H092PA08
, 5F052AA02
, 5F052BA04
, 5F052BA12
, 5F052BB07
, 5F052CA04
, 5F052CA07
, 5F052DA02
, 5F052DB03
, 5F052JA01
, 5F110AA01
, 5F110BB01
, 5F110CC01
, 5F110DD02
, 5F110DD13
, 5F110DD14
, 5F110DD17
, 5F110EE04
, 5F110EE44
, 5F110FF02
, 5F110FF29
, 5F110GG02
, 5F110GG13
, 5F110GG25
, 5F110GG45
, 5F110HL03
, 5F110HL07
, 5F110HL23
, 5F110NN02
, 5F110NN72
, 5F110PP03
, 5F110PP04
, 5F110PP05
, 5F110PP06
, 5F110PP35
, 5G435AA00
, 5G435AA14
, 5G435AA17
, 5G435BB12
, 5G435EE33
, 5G435KK05
, 5G435KK10
引用特許:
前のページに戻る