特許
J-GLOBAL ID:200903031661565410
タイヤ試験装置及び方法
発明者:
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出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
新樹グローバル・アイピー特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-032827
公開番号(公開出願番号):特開2008-203258
出願日: 2008年02月14日
公開日(公表日): 2008年09月04日
要約:
【課題】タイヤの試験を素早くかつ完全に実施可能にする、タイヤを試験するための試験配置並びに装置及び方法を提供する。【解決手段】2つの側壁11、13およびトレッド部分15を有するタイヤ10を特に干渉測定法によって試験するための装置1である。この装置には、タイヤ10がスキャンされて測定結果を生成するための測定ユニット20と、測定ユニット20のための位置決め手段30とが設けられている。測定ユニット20は、少なくとも3つの測定ヘッド21、22、23を有している。第1測定ヘッド21および第2測定ヘッド22は、側壁11、13の外側面12をスキャンするのに用いられ、第3測定ヘッド23は、少なくともトレッド部分15の内側面14をスキャンするのに用いられる。この装置1によって、タイヤ10は迅速にかつ十分に試験され得る。【選択図】図1
請求項(抜粋):
2つの側壁とトレッド部分を有するタイヤを試験する装置であって、
前記タイヤをスキャンして測定結果を生成する測定ユニットと、
前記測定ユニットのための位置決め手段を備え、
前記測定ユニットは、
第1測定方向に向けられ、前記側壁の外側面をスキャンするための第1測定ヘッドと、
第2測定方向に向けられ、前記側壁の前記外側面をスキャンするための第2測定ヘッドと、
第3測定方向に向けられ、少なくとも前記トレッド部分の内側面をスキャンするための第3測定ヘッドとを有している、
装置。
IPC (5件):
G01M 17/02
, G01B 11/16
, G01N 21/88
, B60C 19/00
, G01B 21/32
FI (5件):
G01M17/02 B
, G01B11/16 G
, G01N21/88 Z
, B60C19/00 H
, G01B21/32
Fターム (29件):
2F065AA65
, 2F065CC13
, 2F065FF04
, 2F065FF51
, 2F065HH04
, 2F065JJ05
, 2F065JJ19
, 2F065JJ26
, 2F065MM07
, 2F065MM08
, 2F065QQ24
, 2F065TT02
, 2F069AA06
, 2F069BB28
, 2F069GG07
, 2F069GG65
, 2F069JJ04
, 2F069JJ10
, 2F069NN00
, 2F069PP00
, 2G051AA90
, 2G051AB20
, 2G051AC11
, 2G051BA01
, 2G051BA10
, 2G051BB01
, 2G051CA04
, 2G051CA07
, 2G051DA08
引用特許:
出願人引用 (4件)
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DE4231578A1
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EP1014036B1
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EP1284409A1
-
EP1043578B1
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審査官引用 (8件)
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