特許
J-GLOBAL ID:200903031661565410

タイヤ試験装置及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 新樹グローバル・アイピー特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-032827
公開番号(公開出願番号):特開2008-203258
出願日: 2008年02月14日
公開日(公表日): 2008年09月04日
要約:
【課題】タイヤの試験を素早くかつ完全に実施可能にする、タイヤを試験するための試験配置並びに装置及び方法を提供する。【解決手段】2つの側壁11、13およびトレッド部分15を有するタイヤ10を特に干渉測定法によって試験するための装置1である。この装置には、タイヤ10がスキャンされて測定結果を生成するための測定ユニット20と、測定ユニット20のための位置決め手段30とが設けられている。測定ユニット20は、少なくとも3つの測定ヘッド21、22、23を有している。第1測定ヘッド21および第2測定ヘッド22は、側壁11、13の外側面12をスキャンするのに用いられ、第3測定ヘッド23は、少なくともトレッド部分15の内側面14をスキャンするのに用いられる。この装置1によって、タイヤ10は迅速にかつ十分に試験され得る。【選択図】図1
請求項(抜粋):
2つの側壁とトレッド部分を有するタイヤを試験する装置であって、 前記タイヤをスキャンして測定結果を生成する測定ユニットと、 前記測定ユニットのための位置決め手段を備え、 前記測定ユニットは、 第1測定方向に向けられ、前記側壁の外側面をスキャンするための第1測定ヘッドと、 第2測定方向に向けられ、前記側壁の前記外側面をスキャンするための第2測定ヘッドと、 第3測定方向に向けられ、少なくとも前記トレッド部分の内側面をスキャンするための第3測定ヘッドとを有している、 装置。
IPC (5件):
G01M 17/02 ,  G01B 11/16 ,  G01N 21/88 ,  B60C 19/00 ,  G01B 21/32
FI (5件):
G01M17/02 B ,  G01B11/16 G ,  G01N21/88 Z ,  B60C19/00 H ,  G01B21/32
Fターム (29件):
2F065AA65 ,  2F065CC13 ,  2F065FF04 ,  2F065FF51 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM07 ,  2F065MM08 ,  2F065QQ24 ,  2F065TT02 ,  2F069AA06 ,  2F069BB28 ,  2F069GG07 ,  2F069GG65 ,  2F069JJ04 ,  2F069JJ10 ,  2F069NN00 ,  2F069PP00 ,  2G051AA90 ,  2G051AB20 ,  2G051AC11 ,  2G051BA01 ,  2G051BA10 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051DA08
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • DE4231578A1
  • EP1014036B1
  • EP1284409A1
全件表示
審査官引用 (8件)
全件表示

前のページに戻る