特許
J-GLOBAL ID:200903049969825249

対象物の輪郭測定及び又は変形測定、特に干渉測定のための方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 熊倉 禎男 ,  大塚 文昭 ,  宍戸 嘉一 ,  村社 厚夫 ,  弟子丸 健 ,  井野 砂里
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-162563
公開番号(公開出願番号):特開2005-315821
出願日: 2004年04月28日
公開日(公表日): 2005年11月10日
要約:
【課題】 像の質を向上させる対象物の輪郭測定及び又は変形測定、特に干渉測定のための方法及び装置を提供する。【解決手段】 本発明は、対象物(3)の輪郭測定及び又は変形測定のための方法であって、対象物(3)が、光、特に構造光で照射され、その光は、放射源によって放射され、且つ、特にコヒーレント光(5)或いは部分コヒーレント光、特にレーザ光からなり、対象物(3)で反射された光は、画像センサ(6)を有するカメラによって捕らえられる、方法において、第1の像が、第1の像領域(13)に適合したカメラ及び又は放射源の第1の調節でつくられ、第2の像が、第2の像領域(12)に適合したカメラ及び又は放射源の第2の調節でつくられ、それらの両方の像が結合される方法を提供する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
対象物(3)の輪郭測定及び又は変形測定のための方法であって、対象物(3)が、光、特に構造光で照射され、その光は、放射源によって放射され、且つ、特にコヒーレント光(5)或いは部分コヒーレント光、特にレーザ光からなり、対象物(3)で反射された光は、画像センサ(6)を有するカメラによって捕らえられる、方法において、 第1の像が、第1の像領域(13)に適合したカメラ及び又は放射源の第1の調節でつくられ、第2の像が、第2の像領域(12)に適合したカメラ及び又は放射源の第2の調節でつくられ、それらの両方の像が結合される、ことを特徴とする方法。
IPC (3件):
G01B11/24 ,  G01B11/16 ,  G01B11/25
FI (3件):
G01B11/24 K ,  G01B11/16 H ,  G01B11/24 E
Fターム (25件):
2F065AA53 ,  2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065CC13 ,  2F065DD04 ,  2F065FF06 ,  2F065FF09 ,  2F065FF41 ,  2F065GG04 ,  2F065HH02 ,  2F065HH06 ,  2F065HH14 ,  2F065HH18 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL30 ,  2F065MM04 ,  2F065NN03 ,  2F065NN11 ,  2F065PP13 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ42
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (6件)
  • 特開昭62-021011
  • 特開昭51-139355
  • レーザ光を利用した形状測定方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-031544   出願人:三菱重工業株式会社
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