特許
J-GLOBAL ID:200903035213205262
CMP及び基板研磨用パッド
発明者:
出願人/特許権者:
,
代理人 (2件):
酒井 一
, 蔵合 正博
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-541020
公開番号(公開出願番号):特表2005-518286
出願日: 2002年10月29日
公開日(公表日): 2005年06月23日
要約:
基板の研磨や基板の化学機械平坦化等の用途のためのパッド及びパッドの製造方法を提供する。パッドは、研磨・平坦化特性を改善するため、実質的に多孔質であり実質的に硬質である。本発明の幾つかの実施形態に係るパッドは、標準技術の多孔質パッドと同様の有利な特性と、標準技術の硬質パッドと同様の有利な特性とを兼ね備える。
請求項(抜粋):
基板の化学機械平坦化を行うためのパッドであって、パッドのショアD硬度が約47より大きく、パッドの密度が約0.5g/cm3〜約1.05g/cm3であるパッド。
IPC (5件):
B24B37/00
, D04H1/42
, D04H1/46
, D06M15/564
, H01L21/304
FI (6件):
B24B37/00 C
, D04H1/42 T
, D04H1/46 A
, D04H1/46 Z
, D06M15/564
, H01L21/304 622F
Fターム (25件):
3C058AA07
, 3C058CB01
, 3C058CB03
, 3C058CB05
, 3C058CB10
, 3C058DA12
, 3C058DA17
, 4L033AA06
, 4L033AA07
, 4L033AA08
, 4L033AB05
, 4L033AB07
, 4L033AC15
, 4L033CA50
, 4L047AA09
, 4L047AA21
, 4L047AA23
, 4L047AA25
, 4L047AB02
, 4L047AB07
, 4L047BA03
, 4L047BA04
, 4L047CA19
, 4L047CB08
, 4L047CC14
引用特許:
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