特許

J-GLOBAL ID：200903035287297282

構造因子テンソル要素決定法及びそのためのX線回折装置利用法

発明者： 大隅 寛幸 ,  高田 昌樹 ,  壽榮松 宏仁 ,  藤縄 剛
出願人/特許権者： 財団法人高輝度光科学研究センター ,  日本原子力研究所 ,  株式会社リガク
代理人 (6件)： 社本 一夫 ,  増井 忠弐 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  桜井 周矩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-071667
公開番号（公開出願番号）：特開2005-227251
出願日： 2004年02月13日
公開日（公表日）： 2005年08月25日
要約：

【課題】 物質の構造因子テンソルの決定に必要なX線領域の偏光解析の方法は既に提案されているが、構造因子テンソルの迅速決定および測定感度向上のために、偏光解析結晶を用いる場合には、種々の問題を解決しなければならない。【解決手段】 試料からの散乱X線強度の入射偏光依存性を測定・解析することで、偏光解析結晶を使用することなく構造因子テンソルを決定する方法。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

試料からの散乱X線強度の入射偏光依存性を測定・解析することで、偏光解析結晶を使用することなく構造因子テンソルを決定することを特徴とする方法。

IPC (1件)：

G01N23/20

FI (1件)：

G01N23/20

Fターム (10件)：

2G001AA01 ,  2G001BA14 ,  2G001BA18 ,  2G001BA30 ,  2G001CA01 ,  2G001DA07 ,  2G001DA09 ,  2G001GA13 ,  2G001KA12 ,  2G001LA20

引用特許：

審査官引用 (6件)

• X線偏光分析器及びそのX線偏光分析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-343259   出願人：日本電気株式会社
• 残留オーステナイト体積率の定量方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-286372   出願人：住友金属工業株式会社
• 材料の結晶構造評価法、および耐候性に優れた鋼材
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-118774   出願人：新日本製鐵株式会社
• X線装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-142469   出願人：理学電機株式会社
• X線計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-113027   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平1-274048
  

引用文献：

審査官引用 (1件)

• SPring-8年報2001年度, 94