検査システム

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：京本直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-228181
公開番号（公開出願番号）：特開2003-044114
出願日： 2001年07月27日
公開日（公表日）： 2003年02月14日
要約：

【要約】【課題】電子装置等の検査に用いられる公知の最適試験スケジュール作成装置は、定常的な試験工程においてその効果を発揮するが、実際の様々な制約条件を考慮したものではない。【解決手段】本発明の検査システムでは、検査対象と測定器との測定経路を形成する測定経路生成手段と、検査に関する情報を保持するデータベースと、データベースの情報を用い検査シーケンスを生成する検査スケジューリング手段と、検査シーケンスに従って検査対象、測定経路設定手段、及び測定器を制御するコントローラとを備える。このシステムでは検査スケジューリング手段が与えられる様々な条件に応じて検査シーケンスを計算できるので、リソースの効率的な利用が可能となる。

請求項（抜粋）：

所定の測定項目を測定器を用い検査シーケンスに従って測定する検査システムであって、検査対象と測定器との測定経路を形成する測定経路生成手段と、検査に関する情報を保持するデータベースと、該データベースの情報を用い、検査シーケンスを生成する検査スケジューリング手段と、前記検査シーケンスに従って検査対象、測定経路設定手段、及び測定器を制御するコントローラとを備える検査システム。

Fターム (5件)：

3C100AA22 , 3C100BB12 , 3C100BB13 , 3C100BB14 , 3C100BB27

引用特許：

審査官引用 (7件)

試験機稼働スケジューリング方法および試験システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-147772 出願人：富士通株式会社, 富士通キャドテック株式会社
部品の試験方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-059890 出願人：富士通株式会社, 株式会社富士通東北エレクトロニクス
試験システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-189465 出願人：富士通株式会社

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