特許
J-GLOBAL ID:200903036721417549
微細パタ-ンの転写加工方法
発明者:
,
,
,
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
渡邉 勇 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-122371
公開番号(公開出願番号):特開2000-039702
出願日: 1999年04月28日
公開日(公表日): 2000年02月08日
要約:
【要約】【課題】 安価で大量生産が可能な、光の波長以下を含めた微細な凹凸パターンを被転写体に形成できる微細パターンの転写加工方法を提供する。【解決手段】 微細な凹凸パターン12を備えた転写体11を準備し、被転写体13に半固体材料15を塗布し、転写体11の凹凸パターン12を半固体材料15に加圧して密着させることにより、該半固体材料に凹凸パターン15aを転写し、エネルギービームを該半固体材料の凹凸パターン15aに照射することにより、被転写体13に半固体材料の凹凸パターンに沿った凹凸パターン13aを転写する。
請求項(抜粋):
微細な凹凸パターンを備えた転写体を準備し、被転写体に半固体材料を塗布し、前記転写体の凹凸パターンを前記半固体材料に密着して加圧することにより、該半固体材料に前記凹凸パターンを転写し、エネルギービームを該半固体材料の凹凸パターンに照射することにより、前記被転写体に前記半固体材料の凹凸パターンに沿った凹凸パターンを転写することを特徴とする微細パターンの転写加工方法。
IPC (5件):
G03F 1/08
, G03F 7/20 501
, G21K 5/02
, H01L 21/027
, H01L 21/302
FI (6件):
G03F 1/08 Z
, G03F 7/20 501
, G21K 5/02 Z
, H01L 21/30 502 D
, H01L 21/30 502 P
, H01L 21/302 Z
引用特許:
審査官引用 (6件)
-
薄膜パターン製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-270458
出願人:株式会社日立製作所
-
特開平2-070412
-
超微細加工法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-043214
出願人:株式会社荏原製作所
-
特開昭60-024016
-
リソグラフィ方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-206087
出願人:畑村洋太郎
-
パターン転写加工方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-046629
出願人:株式会社荏原製作所, 畑村洋太郎
全件表示
前のページに戻る