特許
J-GLOBAL ID:200903036827939609

風防ガラス上に存在する物体を検出する方法と装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 江崎 光史 (外3名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-521989
公開番号(公開出願番号):特表2001-523832
出願日: 1998年11月06日
公開日(公表日): 2001年11月27日
要約:
【要約】風防ガラス (2) 上に存在する物体(3)を検出する方法と装置。この方法は、以下のステップからなる:この風防ガラス (2) の外側面(7)上に焦点合わせされた、多数の個別の像点を有する1本の光学的なセンサアレイ(4)でこの風防ガラス (2) の内 側からこの風防ガラスの部分を受光し、1個の又は多数のブロックに統合されたこのセンサアレイ (4) の複数の像 点から強度の変動の空間的周波数スペクトルS(f)を算出し、そして、これらの空間的周波数スペクトルを評価し、この場合、これらの算出された空間的周波数スペクトルS(f)は、1つの又は多数の基準周波数分布と比較され、このとき、これらの算出された空間的周波数スペクトルS(f)が1つの基準周波数分布とほとんど一致したときに、1つの又は多数のアクチュエータを制御する1つの制御信号が生成される。この装置は、データ処理ユニット(5)に接続されている受光ユニット(4)を有する。この受光ユニット(4)は、絞り(9)を有するセンサアレイ(4)であり、かつ風防ガラス(2)の後ろに所定の間隔をあけて配置されている。
請求項(抜粋):
【請求項01】 以下のステップで風防ガラス(2)上に存在する物体 (3) を検出する方法:- この風防ガラス (2) の外側面(7)上に焦点合わせされた、多数の個別の 像点を有する1本の光学的なセンサアレイ(4)でこの風防ガラス (2) の内 側からこの風防ガラスの部分を受光し、- 1個の又は多数のブロックに統合されたこのセンサアレイ (4) の複数の像 点から強度の変動の空間的周波数スペクトル(S(f))を算出し、そして、- これらの空間的周波数スペクトルを評価し、この場合、これらの算出された 空間的周波数スペクトル(S(f))は、1つの又は多数の基準周波数分布と比較 され、このとき、これらの算出された空間的周波数スペクトル(S(f))が1つ の基準周波数分布とほとんど一致したときに、1つの又は多数のアクチュエー タを制御する1つの制御信号が生成される。 【請求項02】 以下のステップで風防ガラス(2)上に存在する物体 (3) を検出する方法:- の風防ガラス (2) の外側面(7)上に焦点合わせされた、多数の個別の像 点を有する1本の光学的なセンサアレイ(4)でこの風防ガラス (2) の内側 からこの風防ガラスの部分を受光し、- 複数のブロックに対して統合されたこのセンサアレイ (4) の複数の像点か ら強度の空間的周波数スペクトル(S(f))を、これらの全てのブロックにわた る1つ又は多数の周波数帯のスペクトル出力密度の変化として算出し、そして 、- これらのブロックのこれらの像点にわたるこの又はこれらの周波数帯のスペ クトル出力密度の変化に関してこれらの空間的周波数スペクトルを多段式に評 価することによって、これらの空間的周波数スペクトルを評価し、この場合、 第1の評価ステップでは、この各ブロックの空間的周波数スペクトルが、その 又はそれらの周波数帯に関して1つの基準周波数分布と比較され、そのブロッ クに関する比較値とその周波数に関する比較値とが或る閾値を越えると、1つ の信号が出力され、この場合、その又はそれらの周波数帯に関する数が、この 第1の評価ステップで出力されたそれらの信号によって第2の評価ステップで 検出され、そのそれぞれの周波数帯に関する或る閾値と比較され、或る閾値を 越えると、1つ又は多数のアクチュエータを制御する1つの制御信号が生成さ れる。 【請求項03】 センサアレイ(4)によって検出された像内に存在する被写体の空間的周波数スペクトル(S(f))が、像データ(s(x))を離散的なコサイン変換で変換することによって算出されることを特徴とする請求1又は2に記載の方法。 【請求項04】 個々の周波数帯を低域フィルタで一次的に繰返し濾過するステップが、検出された像上に形成された被写体(s(x))の空間的周波数スペクトル(S(f))を算出するステップに対して後続することを特徴とする請求項1又は2に記載の方法。 【請求項05】 低域フィルタのフィルタパラメータが、適合可能であることを特徴とする請求項4に記載の方法。 【請求項06】 検出された像上に形成された被写体(s(x))の空間的周波数スペクトル(S(f))を算出する前に、光学的なセンサアレイ (4) の個々の像点が過変調されているかを確認すること、及び、1個の又は多数の像点が過変調されているのが確認されたときは、この確認が、比較ステップの実行時に考慮されることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法。 【請求項07】 光学的なセンサアレイ(4)によって検出された風防ガラス部分が、照射中に変化する入射方向でもって内側から赤外線光で照射されることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。 【請求項08】 バックグラウンドを除去するステップが、空間的周波数スペクトル(S(f))を算出するステップとこれらの空間的周波数スペクトル(S(f))を評価するステップとの間で実行され、この場合、高い周波数帯が、低い周波数帯で検出された強度の変動に依存して変調されることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法。 【請求項09】 受光ユニット(4)が風防ガラス(2)の後ろに所定の間隔をあけて配置されていて、応答部としてのアクチュエータがこの風防ガラス(2)上で確認された物体に対して制御可能であり、この風防ガラス (2) の部分を内側で観測し、このデータ処理ユニット(5)に接続されたこの受光ユニット(4,16)から構成されているこの風防ガラス上に存在するこれらの物体(3)を検出する装置において、この受光ユニットは、絞り(9)を有し、この風防ガラス(2)の外側面(7)に焦点を合わせる光学的な1本のセンサアレイ(4,16)であること、及び、この光学的なセンサアレイ (4,16) の出力側に接続されているこのデータ処理装置(5)は、その検出された像上に形成された被写体(s(x))の空間的周波数スペクトル(S(f))を算出する変換モジュール(11,17)と、それらの算出された空間的周波数スペクトル(S(f))を評価する評価ユニット(14,20)とを有することを特徴とする装置。 【請求項10】 単体レンズの光学系とこの単体レンズの光学系の前方に接続されたピンホールとを有するカメラセンサが、光学的なセンサアレイとして設けられていることを特徴とする請求項9に記載の装置。 【請求項11】 単体レンズの光学系とこの単体レンズの光学系の前方に接続されたピンホール(9)とを有するセンサライン(4,16)が、光学的なセンサアレイとして設けられていることを特徴とする請求項9に記載の装置。 【請求項12】 一時的に繰返し作動する低域フィルタ(13,18)が、変換モジュール(11,17)と評価ユニット(14,20)との間に配置されていることを特徴とする請求項11に記載の装置。 【請求項13】 光学的なセンサアレイ (4) の個々の像点が過変調されているかを確認する過変調監視ユニット (12) が、データ処理ユニット (5) に配置されていることを特徴とする請求項9〜12のいずれか1項に記載の装置。 【請求項14】 ニューロンの原理にしたがって作動する評価ユニット (20) が、評価ユニットとして設けられていることを特徴とする請求項9〜13のいずれか1項に記載の装置。 【請求項15】 赤外線光で内側から風防ガラス(2)を照射する照射装置(D1,D2)が、検出装置(1)に配置されていて、この照射装置(D1,D2)は、センサアレイ(4,16)によって検出された基準点に対して、変化する方向からこの風防ガラスの部分を照射するために使用されていることを特徴とする請求項9〜13のいずれか1項に記載の装置。
IPC (2件):
G01N 21/17 ,  B60S 1/08
FI (2件):
G01N 21/17 E ,  B60S 1/08 Z
Fターム (14件):
2G059AA05 ,  2G059BB02 ,  2G059CC11 ,  2G059EE02 ,  2G059GG06 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059MM05 ,  3D025AA01 ,  3D025AD01 ,  3D025AG42
引用特許:
審査官引用 (17件)
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