特許
J-GLOBAL ID：200903037507437121
質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-310966
公開番号（公開出願番号）：特開2005-079037
出願日： 2003年09月03日
公開日（公表日）： 2005年03月24日
要約：
【課題】 周回軌道を有する質量分析装置において質量精度を向上させる。 【解決手段】 イオンの周回軌道A上にイオン非破壊型の検出器5を設け、分析対象のイオンがN回周回するまでの周回毎に飛行時間を測定し、周回毎のピークが現れる飛行時間スペクトルを作成する。或いは、1〜N周回まで、イオン源1からのイオン出射毎に順次周回数を変化させ、イオン破壊型の検出器4による検出信号に基づいて各周回数に対する飛行時間を測定し、それを合成することで周回毎のピークが現れる飛行時間スペクトルを作成する。データ処理部7ではこのスペクトルデータをフーリエ変換することで波長軸に変換し、質量数に対応した周波数のピークを見つけ、その周波数から質量数を算出する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
a)イオン源から出発した各種イオンを略同一の周回軌道に沿って1乃至複数回繰り返し飛行させるための飛行空間と、
b)前記周回軌道を所定回数周回したイオンを検出する検出器と、
c)前記検出器により同一質量数のイオンについて周回毎の飛行時間を測定する測定手段と、
d)前記測定手段による測定結果に基づいて作成される周回毎の飛行時間を表す波形データをフーリエ変換することで時間/周波数変換を行い、その周波数より目的とするイオンの質量数を算出する処理手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
出願人引用 (3件)
審査官引用 (5件)
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