特許
J-GLOBAL ID:200903037598879210
パターン描画方法及びパターン描画装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
後藤 洋介
, 池田 憲保
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-148362
公開番号(公開出願番号):特開2004-354415
出願日: 2003年05月26日
公開日(公表日): 2004年12月16日
要約:
【課題】各マイクロミラーに印加する電圧の中間値を用いて制御せずに、中間光量を利用できるパターン描画方法、及びパターン描画装置を提供する。【解決手段】パターン描画装置では10000Hzのフレーム数でミラーデバイス106上のパターンが制御されるため、0.1msごとに新しいパターンがマスク基板108上に投影される。0.1msの時間毎に、投影パターン109の位置(順次、109a、109b、109c、109d、109e)をずらして投影する。すなわち、0.1ms毎に、パルス状のレーザ光L1の発生によって、拡大マスク110上に投影されるパターンを投影パターンのサイズ(X方向の幅)の1/4づつ移動させる。これにより、投影パターンがフレーム間で3/4の面積が重なることから、投影パターンの全面において4回オーバーラップするため、4段階の階調を出すことができる。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
二次元に配列された微小ミラーを含むミラーデバイスに光源からの露光光を入射し、前記ミラーデバイスから出力される投影パターンを用いて基板上にパターンを描画するパターン描画方法において、前記ミラーデバイスから出力される投影パターンを直接または縮小投影して前記基板上のパターン投影領域の実質的に全面に複数回オーバーラップさせて露光することを特徴とするパターン描画方法。
IPC (3件):
G03F7/20
, G03F1/08
, H01L21/027
FI (4件):
G03F7/20 505
, G03F1/08 A
, H01L21/30 519
, H01L21/30 529
Fターム (12件):
2H095BA01
, 2H095BB02
, 2H095BB08
, 2H097AA05
, 2H097BB01
, 2H097CA17
, 2H097LA20
, 5F046BA06
, 5F046BA07
, 5F046CA03
, 5F046CB02
, 5F046CB18
引用特許:
審査官引用 (5件)
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露光装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-141320
出願人:大日本スクリーン製造株式会社
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レーザリソグラフィ用のマルチプレクサ
公報種別:公表公報
出願番号:特願2000-559464
出願人:サイマー,インコーポレイテッド
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特開昭62-021220
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