特許
J-GLOBAL ID:200903039141659579

窒化物半導体素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 豊栖 康司 ,  豊栖 康弘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-358106
公開番号(公開出願番号):特開2006-165453
出願日: 2004年12月10日
公開日(公表日): 2006年06月22日
要約:
【課題】フリースタンディングGaN基板上で成長させた窒化物半導体素子の電気特性を改善する。【解決手段】窒化物半導体素子は、GaNよりなるフリースタンディングの基板と、基板上に形成されたn-AlxGa1-xN(0≦x≦0.05)よりなる第1バッファ層と、第1バッファ層上に形成されたn-InyGa1-yN(0<y≦0.1)よりなる第2バッファ層と、第2バッファ層上に形成されたAlGaN層とを備える。この構成により、バッファ層の機能を、再成長界面からの転位の発生を抑制する第1バッファ層と、クラックの発生を抑制する第2バッファ層とに分けることで、フリースタンディング基板上に高品質のAlGaN層を成長させ、電気特性の優れた窒化物半導体素子を得ることができる。【選択図】図3
請求項(抜粋):
GaNよりなるフリースタンディングの基板と、 前記基板上に形成されたn-AlxGa1-xN(0≦x≦0.05)よりなる第1バッファ層と、 前記第1バッファ層上に形成されたn-InyGa1-yN(0<y≦0.1)よりなる第2バッファ層と、 前記第2バッファ層上に形成されたAlGaN層と、 を備えることを特徴とする窒化物半導体素子。
IPC (2件):
H01S 5/32 ,  H01L 21/205
FI (2件):
H01S5/32 ,  H01L21/205
Fターム (22件):
5F045AA04 ,  5F045AB14 ,  5F045AB17 ,  5F045AC08 ,  5F045AC12 ,  5F045AC19 ,  5F045AD12 ,  5F045AD14 ,  5F045AF05 ,  5F045CA10 ,  5F045CA13 ,  5F045DA53 ,  5F045DA55 ,  5F173AA21 ,  5F173AG14 ,  5F173AH22 ,  5F173AH44 ,  5F173AP05 ,  5F173AP33 ,  5F173AP84 ,  5F173AR82 ,  5F173AR83
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (3件)

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