特許
J-GLOBAL ID：200903040378383177
論理回路検証装置及び検証方法
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
恩田 博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-134137
公開番号（公開出願番号）：特開平8-329124
出願日： 1995年05月31日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：
【要約】【目的】本発明は論理セルの動作周波数を考慮した検証動作を可能として、検証精度を向上させ得る論理回路検証装置を提供することを目的とする。【構成】複数の論理セルと配線データとからなる論理回路データを格納する論理回路データ格納装置5と、所定の検証項目について検証動作を行うための検証データを格納する検証データ格納装置6と、前記検証データに基づいて前記論理回路データの検証を行う論理検証演算装置3とから論理回路検証装置が構成される。動作周波数毎の検査ルールを前記検証データとして格納する周波数別検査ルール格納部7が前記検証データ格納装置6に設けられる。
請求項（抜粋）：
複数の論理セルと配線データとからなる論理回路データを格納する論理回路データ格納装置と、所定の検証項目について検証動作を行うための検証データを格納する検証データ格納装置と、前記検証データに基づいて前記論理回路データの検証を行う論理検証演算装置とを備えた論理回路検証装置であって、動作周波数毎の検査ルールを前記検証データとして格納する周波数別検査ルール格納部を前記検証データ格納装置に設けたことを特徴とする論理回路検証装置。
引用特許：
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