特許
J-GLOBAL ID：200903040514077662

内部品質検査装置及び内部品質検査方法

発明者：
及川 正廣

及川 正廣 について

, 
浅野 達郎

浅野 達郎 について


出願人/特許権者：
株式会社ニレコ

株式会社ニレコ について


代理人 (2件)： 天野 広 ,  佐藤 賢改
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-279689
公開番号（公開出願番号）：特開2005-043295
出願日： 2003年07月25日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：
【課題】 光源の暖機運転の必要をなくし、同一の物理量データを使用することができる内部品質検査装置及び内部品質検査方法を提供すること。 【解決手段】 被検査物であるミカン115の検査を行うに際して基準とする基準光のスペクトルデータを基準スペクトルデータとして補助メモリ112に記憶しておくことで、ミカン115の検査を行う際の光源101の光のスペクトルデータをこの基準スペクトルデータにより補正することで、ミカン115に対して基準光を照射した場合と同様のスペクトルデータを得られるようにする。 【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被検査物に光を照射する光源と、 前記被検査物の検査を行うに際して基準とする基準光を所定の減光率で減光した光のスペクトルデータを基準スペクトルデータとして、また、前記基準光を前記被検査物に照射した際に透過した光のスペクトルデータに対応した前記被検査物の内部の物理量を演算するためのデータを物理量データとして、予め記憶している記憶手段と、 前記光源から照射され前記減光率で減光した光のスペクトルデータを計測し計測時スペクトルデータとするとともに、被検査物を透過した光のスペクトルデータを計測し被検査物スペクトルデータとする計測手段と、 前記基準スペクトルデータと前記計測時スペクトルデータとの比又は差に基づいて補正値を算出し、前記補正値に基づいて前記被検査物スペクトルデータを補正して、前記物理量データを参照することにより前記被検査物の内部の物理量を演算処理する演算処理手段と、 を備える内部品質検査装置。
IPC (4件)：
G01N21/35 ,  G01N21/27 ,  G01N21/85 ,  G01N33/02
FI (4件)：
G01N21/35 Z ,  G01N21/27 F ,  G01N21/85 A ,  G01N33/02
Fターム (32件)：
2G051AA05 ,  2G051AB20 ,  2G051BA06 ,  2G051BA08 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB11 ,  2G059CC20 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK04 ,  2G059MM05 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14 ,  2G059PP04
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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