特許
J-GLOBAL ID:200903041759989965
光学式変位計
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
飯塚 信市
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-099898
公開番号(公開出願番号):特開2001-280951
出願日: 2000年03月31日
公開日(公表日): 2001年10月10日
要約:
【要約】【課題】 計測開始時や計測対象変更時等において、最適計測条件への設定や再設定を可及的速やかに行ない得るようにした光学式変位計を提供すること。【解決手段】 計測対象物体上に計測用の光スポットを形成するための発光素子を含む投光手段と、光スポットが形成された計測対象物体を所定の角度から撮影する撮像素子を含む受光手段と、受光手段から得られる画像中の光スポット像の位置情報に基づいて目的とする変位を算出する演算手段と、を有する光学式変位計であって、受光手段から得られる画像から光スポット像の映像信号の大きさと相関のある画像的特徴を抽出する特徴抽出手段と、抽出された画像的特徴と所定の基準値との比較に基づいて、投光手段の投光ゲイン調整要素および/または受光手段の受光ゲイン調整要素を操作することにより、変位算出演算に用いる光スポット像の映像信号の大きさを適正状態に制御する制御手段と、を具備する。
請求項(抜粋):
計測対象物体上に計測用の光スポットを形成するための発光素子を含む投光手段と、光スポットが形成された計測対象物体を所定の角度から撮影する撮像素子を含む受光手段と、受光手段から得られる画像中の光スポット像の位置情報に基づいて目的とする変位を算出する演算手段と、を有する光学式変位計であって、受光手段から得られる画像から光スポット像の映像信号の大きさと相関のある画像的特徴を抽出する特徴抽出手段と、抽出された画像的特徴と所定の基準値との比較に基づいて、投光手段の投光ゲイン調整要素および/または受光手段の受光ゲイン調整要素を操作することにより、変位算出演算に用いる光スポット像の映像信号の大きさを適正状態に制御する制御手段と、を具備する、光学式変位計。
IPC (2件):
FI (3件):
G01C 3/06 A
, G01B 11/00 B
, G01B 11/00 H
Fターム (53件):
2F065AA06
, 2F065AA09
, 2F065AA17
, 2F065AA19
, 2F065AA24
, 2F065BB29
, 2F065DD00
, 2F065DD06
, 2F065DD09
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF09
, 2F065GG06
, 2F065GG08
, 2F065GG13
, 2F065HH04
, 2F065HH05
, 2F065HH12
, 2F065JJ01
, 2F065JJ07
, 2F065JJ26
, 2F065LL04
, 2F065LL30
, 2F065NN02
, 2F065NN13
, 2F065NN17
, 2F065PP22
, 2F065QQ00
, 2F065QQ02
, 2F065QQ03
, 2F065QQ21
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
, 2F065QQ26
, 2F065QQ27
, 2F065QQ28
, 2F065QQ33
, 2F065QQ34
, 2F065QQ41
, 2F065QQ42
, 2F112AA09
, 2F112BA05
, 2F112CA13
, 2F112DA25
, 2F112DA28
, 2F112EA09
, 2F112FA03
, 2F112FA05
, 2F112FA07
, 2F112FA21
, 2F112FA32
, 2F112FA39
, 2F112FA41
引用特許:
審査官引用 (10件)
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特開平2-171608
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特開平4-244906
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特開平1-245112
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高さ測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-225906
出願人:松下電器産業株式会社
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電荷結合素子型光検出器及びそれを用いた距離測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-303970
出願人:日本電信電話株式会社
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三次元形状計測装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-171860
出願人:株式会社ユニスン, 世古口言彦
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断面形状測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-304162
出願人:日産自動車株式会社
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高輝度領域の属性検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-208102
出願人:アイシン精機株式会社
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特開昭64-012216
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特開昭63-290907
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