特許
J-GLOBAL ID：200903041887458921
熱分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-240625
公開番号（公開出願番号）：特開2002-055066
出願日： 2000年08月09日
公開日（公表日）： 2002年02月20日
要約：
【要約】【課題】熱分析装置の温度校正作業を自動化することによって自動的に測定系を校正し、計算ミスや入力ミスを解消し、かつ測定者の労力を大幅に軽減する。【解決手段】所定の位置に載置した融解温度が既知の温度標準物質を、試料握持部35で握持して熱分析装置の検出器11の測定試料側Sに自動搬送するオートサンプラ30を設ける。他方、電子計算機20で予め指定したプログラムにしたがって熱分析を行ない、実測された温度標準物質の融解データTmと既知データTeとの差を電子計算機20により計算して補正値を求めて、この補正値ΔTc(Tm)を記憶すると共にこの補正値を用いて、熱分析装置の温度校正を行うので温度測定精度が維持される。
請求項（抜粋）：
熱分析装置の検出部に温度標準物質を搬送する手段と、指定されたプログラムにしたがって前記温度標準物質を熱分析して温度測定を行う手段と、前記温度標準物質の既知温度と熱分析により実測された温度とを比較演算することにより補正値を求める手段と、この補正値を記憶する手段と、未知試料を熱分析した際この補正値を用いて補正演算する手段とを備えたことを特徴とする熱分析装置。
Fターム (23件)：
2G040AB01
, 2G040AB12
, 2G040BA08
, 2G040BA25
, 2G040CA02
, 2G040CA11
, 2G040CA22
, 2G040CB03
, 2G040DA03
, 2G040DA12
, 2G040EA02
, 2G040EB02
, 2G040EC09
, 2G040FA03
, 2G040GA07
, 2G040GB01
, 2G040GB08
, 2G040HA01
, 2G040HA06
, 2G040HA08
, 2G040HA15
, 2G040HA16
, 2G040HA18
出願人引用 (10件)
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熱分析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平9-130943
出願人：株式会社島津製作所
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熱分析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平4-265183
出願人：セイコー電子工業株式会社
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特開平4-203957
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審査官引用 (3件)
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熱分析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平9-130943
出願人：株式会社島津製作所
-
熱分析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平4-265183
出願人：セイコー電子工業株式会社
-
特開平4-203957
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