特許
J-GLOBAL ID：200903043488557862

メモリ診断方法及びその機能を具備した電動パワーステアリング装置

発明者：
久保 信広

久保 信広 について


出願人/特許権者：
日本精工株式会社

日本精工株式会社 について


代理人 (3件)： 安形 雄三 ,  五十嵐 貞喜 ,  北野 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-153877
公開番号（公開出願番号）：特開2006-331086
出願日： 2005年05月26日
公開日（公表日）： 2006年12月07日
要約：
【課題】CPUの診断処理のための負荷処理を軽減し、高速診断を可能にしたメモリ診断方法及びこの機能を具備した信頼性の高い高性能な電動パワーステアリング装置の制御装置を提供する。【解決手段】CPUの作業領域となるメモリの故障若しくは異常を診断するメモリ診断方法において、診断処理のための複数のレジスタを用意し、前記メモリの内容を転送されたレジスタのデータをビット反転演算してテストデータを生成し、前記テストデータを前記メモリ及びレジスタの間を相互に転送して後、前記複数レジスタの内容の一致、不一致によって前記メモリの故障若しくは異常を診断すると共に、かかるメモリ診断機能を電動パワーステアリング装置に搭載する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
CPUの作業領域となるメモリの故障若しくは異常を診断するメモリ診断方法において、診断処理のための複数のレジスタを用意し、前記メモリの内容を転送されたレジスタのデータをビット反転演算してテストデータを生成し、前記テストデータを前記メモリ及びレジスタの間を相互に転送して後、前記複数レジスタの内容の一致、不一致によって前記メモリの故障若しくは異常を診断することを特徴とするメモリ診断方法。
IPC (2件)：
G06F 12/16 ,  B62D 5/04
FI (2件)：
G06F12/16 330C ,  B62D5/04
Fターム (9件)：
3D233CA03 ,  3D233CA13 ,  3D233CA16 ,  3D233CA21 ,  3D233CA31 ,  5B018GA03 ,  5B018HA01 ,  5B018NA01 ,  5B018QA13
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • レジスタ診断装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-062379   出願人：株式会社ユニシアジェックス
審査官引用 (7件)
  • 特開昭61-177558
  • 特開昭61-065562
  • RAMの診断装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-238523   出願人：株式会社ユニシアジェックス
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