特許
J-GLOBAL ID:200903043733206906

X線異物検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西村 教光 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-325780
公開番号(公開出願番号):特開2002-131247
出願日: 2000年10月25日
公開日(公表日): 2002年05月09日
要約:
【要約】【課題】 被検査物の長さに応じた最適な表示エリアでX線曝射時の被検査物の全体画像を表示し、被検査物中の異物の有無を一目で確認できる。【解決手段】 被検査物の長さに応じて表示器6の表示エリア6aを可変し、被検査物の長さに最適な表示エリア6aでX線曝射時の内部状態を示す被検査物の全体画像Aを表示するとともに、この全体画像A以外の表示エリア6a内に一緒に被検査物の良否判定表示Bや検査結果表示Cを行う。
請求項(抜粋):
被検査物(2)にX線を曝射し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるX線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器(6)の表示エリア内に表示するX線異物検出装置(1)において、前記X線曝射時の内部状態を示す前記被検査物の全体画像を前記表示器の表示エリア内に表示するように前記被検査物の長さに応じて前記表示エリアの大きさを可変制御する表示制御手段(15)を備えたことを特徴とするX線異物検出装置。
IPC (2件):
G01N 23/04 ,  G01B 15/00
FI (2件):
G01N 23/04 ,  G01B 15/00 A
Fターム (34件):
2F067AA62 ,  2F067AA67 ,  2F067BB14 ,  2F067EE05 ,  2F067FF11 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL03 ,  2F067LL14 ,  2F067NN03 ,  2F067PP15 ,  2F067RR30 ,  2F067SS02 ,  2F067SS13 ,  2F067UU33 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001GA04 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001JA20 ,  2G001KA20 ,  2G001LA01 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11
引用特許:
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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