特許
J-GLOBAL ID:200903043944903131
教示用画像生成方法および装置、画像処理アルゴリズム生成方法および装置、画像検査方法および装置、プログラムならびに記録媒体
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件):
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-161636
公開番号(公開出願番号):特開2006-337152
出願日: 2005年06月01日
公開日(公表日): 2006年12月14日
要約:
【課題】 教示過程において自己発展的に目標となる処理を習得するアルゴリズムに高速に処理させることが可能な教示用画像を生成することが可能な教示用画像生成方法および装置、プログラムならびに記録媒体と、優良な画像処理アルゴリズムを高速に生成することが可能な画像処理アルゴリズム生成方法および装置、プログラムならびに記録媒体と、適切に検査対象画像の良否を判定可能な画像検査方法および装置、プログラムならびに記録媒体とを提供する。【解決手段】 検査領域を有する教示用画像において、指定された検査領域内の検査領域画像の特徴量を算出し、算出された画像を配置する位置に、検査領域画像の特徴量を変化させた変化検査領域画像を配置した新規欠陥追加教示用画像を生成する。【選択図】 図5
請求項(抜粋):
教示過程において自己発展的に目標となる処理を習得するアルゴリズムに処理させるための、検査領域を有する教示用画像を生成する教示用画像生成方法であって、
前記検査領域を有する教示用画像を入力する工程と、
前記検査領域を指定する工程と、
前記指定された検査領域内の検査領域画像の特徴量を算出する工程と、
前記教示用画像内で画像を配置する位置を算出する工程と、
前記検査領域画像の特徴量を変化させた変化検査領域画像を生成する工程と、
前記算出された画像を配置する位置に前記変化検査領域画像を配置した新規欠陥追加教示用画像を生成する工程とを含む、教示用画像生成方法。
IPC (4件):
G01N 21/88
, G06T 1/00
, G06N 3/00
, G01B 11/30
FI (4件):
G01N21/88 J
, G06T1/00 300
, G06N3/00 550G
, G01B11/30 A
Fターム (65件):
2F065AA03
, 2F065AA17
, 2F065AA31
, 2F065AA49
, 2F065AA58
, 2F065CC17
, 2F065CC25
, 2F065DD06
, 2F065DD19
, 2F065EE00
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065FF41
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065QQ13
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
, 2F065QQ42
, 2F065RR09
, 2F065SS02
, 2F065SS04
, 2F065SS13
, 2G051AA90
, 2G051AB02
, 2G051AC21
, 2G051BB01
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA16
, 2G051EA21
, 2G051EA23
, 2G051EB01
, 2G051EB09
, 2G051EC02
, 2G051EC03
, 2G051ED03
, 2G051ED14
, 2G051ED21
, 5B057AA02
, 5B057BA02
, 5B057BA29
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC01
, 5B057CE06
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DB05
, 5B057DB09
, 5B057DC03
, 5B057DC04
, 5B057DC06
, 5B057DC22
, 5B057DC36
, 5B057DC40
引用特許:
出願人引用 (3件)
審査官引用 (5件)
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