特許
J-GLOBAL ID:200903045818220730

スクイド磁気画像化装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 丸岡 裕作
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-101264
公開番号(公開出願番号):特開2002-296238
出願日: 2001年03月30日
公開日(公表日): 2002年10月09日
要約:
【要約】【課題】 磁気測定密度を高めることを図る。【解決手段】 被検体tを設置するステージ20と、ステージ20に設置された被検体tの複数のエリアaに夫々磁場を与える励磁源30と、エリアaを選択して選択したエリアaの励磁源30の磁場の周期を可変にする磁場周期可変手段40と、スクイドが検知した磁気信号を磁場周期可変手段40が選択したエリアa毎に抽出する磁気信号抽出手段50と、磁気信号抽出手段50が抽出した磁気信号をエリアa対応にマッピングして画像化する画像化手段60とを備えた。
請求項(抜粋):
被検体に磁場を与えて、該磁場により該被検体を透過し該被検体の複素透磁率に対応した磁気信号をピックアップコイルを介してスクイドで検知し、該スクイドの検知結果に基づいて上記磁気信号を画像化するスクイド磁気画像化装置において、該被検体を設置するステージと、該ステージに設置された被検体の複数のエリアに夫々磁場を与える励磁源と、該エリアを選択して該選択したエリアの励磁源の磁場の周期を可変にする磁場周期可変手段と、上記スクイドが検知した上記磁気信号を上記磁場周期可変手段が選択した上記エリア毎に抽出する磁気信号抽出手段と、該磁気信号抽出手段が抽出した磁気信号を上記エリア対応にマッピングして画像化する画像化手段とを備えて構成したことを特徴とするスクイド磁気画像化装置。
IPC (2件):
G01N 27/72 ,  G01R 33/035 ZAA
FI (2件):
G01N 27/72 ,  G01R 33/035 ZAA
Fターム (16件):
2G017AA08 ,  2G017AB07 ,  2G017AD32 ,  2G017BA18 ,  2G053AA11 ,  2G053AB07 ,  2G053AB14 ,  2G053BA02 ,  2G053BA15 ,  2G053BC02 ,  2G053BC13 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CA10 ,  2G053CB25 ,  2G053DB01
引用特許:
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (11件)
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