品質検査装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：柳野隆生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-302148
公開番号（公開出願番号）：特開2000-131244
出願日： 1998年10月23日
公開日（公表日）： 2000年05月12日
要約：

【要約】【課題】一台の装置を用いて、被検査物のホログラム部分とこのホログラム以外の部分とを同時に高精度で検査することが可能な品質検査装置を提供することを目的とする。【解決手段】本発明に係る品質検査装置1 は、被検査物4 に含まれるホログラム層を所定の傾斜角度(θ1 )で入射するように光照射し、該ホログラム層に記録されたホログラム再生像を撮像カメラ7 に与える光源5 と、ホログラム層以外の印刷面および下地を前記傾斜角度とは異なる傾斜角度(θ2 )で入射するように光照射し、該印刷面および下地の反射像を撮像カメラ7 へ与える光源6 とを備えるとともに、ホログラム層、印刷面および下地の良否を同時に判定する判定手段8 を備えるものである。

請求項（抜粋）：

ホログラム層を含む被検査物の検査領域を光照射する単または複数の光源と、前記検査領域からの反射光を受光し当該検査領域を撮像する撮像手段と、当該検査領域の像の光強度分布を基にして被検査物の品質を判定する判定手段とを備え、前記光源が、ホログラム層を所定の入射角度で光照射し、該ホログラム層に記録されたホログラム再生像を撮像手段へ与える単または複数のホログラム検査用光源からなり、前記判定手段により該ホログラム再生像の光強度分布を基にして前記ホログラム層の品質が判定されることを特徴とする品質検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/89 , G06T 7/00 , B41F 33/14

FI (3件)：

G01N 21/89 610 A , G06F 15/62 410 A , B41F 33/14 G

Fターム (19件)：

2C250EB40 , 2C250EB43 , 2G051AA34 , 2G051AB11 , 2G051BA01 , 2G051CA03 , 2G051CA04 , 2G051CB01 , 2G051CB05 , 2G051CC07 , 2G051EB01 , 2G051ED05 , 5B057AA11 , 5B057BA02 , 5B057BA13 , 5B057BA15 , 5B057BA19 , 5B057DA03 , 5B057DC22

引用特許：

出願人引用 (6件)

特開平1-096685
ホログラムカード検査装置及びホログラムカード検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-305712 出願人：凸版印刷株式会社
特開平2-248845

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審査官引用 (6件)

特開平1-096685
ホログラムカード検査装置及びホログラムカード検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-305712 出願人：凸版印刷株式会社
特開平2-248845

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