特許
J-GLOBAL ID：200903046499606732

表面状態を判定するための装置およびプログラム

発明者：
江口 純司

江口 純司 について

, 
村上 学

村上 学 について


出願人/特許権者：
本田技研工業株式会社

本田技研工業株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人オカダ・フシミ・ヒラノ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-228097
公開番号（公開出願番号）：特開2006-047098
出願日： 2004年08月04日
公開日（公表日）： 2006年02月16日
要約：
【課題】検査対象物における傷その他の表面状態の判定を効率的に行う。【解決手段】検査対象物の表面状態判定装置は、対象物の予め定めた複数の部位のそれぞれについて、該部位における所定の表面状態を学習したデータマップを記憶する記憶手段と、対象物を撮像する撮像手段と、を備える。該装置は、撮像手段から取得した対象物の画像において、他の領域に対し予め定めたしきい値を超える輝度差を有する要判定領域を含むよう検査領域を設定する。該検査領域から特徴ベクトルを抽出する。対象物の複数の部位のうち、該検査領域が属する部位を判断して、該部位に対応するデータマップを選択する。特徴ベクトルを該選択されたデータマップに入力して、該検査領域が所定の表面状態を含むかどうかを判定する。こうして、個々のデータマップの容量を抑制して、判定時間の増大を防ぐ。【選択図】図10
請求項（抜粋）：
検査対象物の表面状態を判定する装置であって、 前記対象物の予め定めた複数の部位のそれぞれについて、該部位における所定の表面状態を学習した判定データマップを記憶する記憶手段と、 前記対象物を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段から取得した前記対象物の画像において、他の領域に対し予め定めたしきい値を超える輝度差を有する要判定領域を含むよう検査領域を設定する手段と、 前記検査領域から特徴ベクトルを抽出する手段と、 前記複数の部位のうち、前記検査領域が属する部位を判断して、該部位に対応するデータマップを選択する手段と、 前記特徴ベクトルを前記選択されたデータマップに入力して、該検査領域における所定の表面状態を判定する判定手段と、 を備える装置。
IPC (2件)：
G01N 21/88 ,  G01N 21/952
FI (2件)：
G01N21/88 J ,  G01N21/952
Fターム (15件)：
2G051AA07 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CD07 ,  2G051DA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED04 ,  2G051ED21
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 特許出願公開番号昭63-201556
  • 特許出願公開番号2002-109541
審査官引用 (6件)
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