特許
J-GLOBAL ID：200903047048242857

自動分析装置

発明者：
八木 賢一

八木 賢一 について

, 
中村 和弘

中村 和弘 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (2件)： 小川 勝男 ,  田中 恭助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-059880
公開番号（公開出願番号）：特開2004-271265
出願日： 2003年03月06日
公開日（公表日）： 2004年09月30日
要約：
【課題】検体の分析中にオペレータが新たに待機試薬ボトルに対して精度管理試料の測定の依頼を行う必要が無く、継続して信頼性の高い分析結果が得られる自動分析装置を提供すること。【解決手段】複数の同一試薬ボトルを1分析ユニットに設置時、当該使用試薬ボトルの試薬量が設定値以下になると、バッファに設置してある精度管理試料を自動的に分析装置に供給し、当該使用試薬ボトルの待機試薬ボトルに対して、精度管理試料の測定を行う。当該使用ボトルの試薬切れが生じた場合に事前に精度管理試料が測定されている待機試薬ボトルに移り分析を継続する。【効果】当該使用中の試薬切れに伴う試薬ボトル変更が発生する直前に、次に使用する同一項目待機試薬ボトルの精度管理試料測定が可能であり、スループットを低下させず、信頼性の高い分析が可能である。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
生体サンプルを分析する分析ユニットと、上記サンプルを有するラックを設置するラック投入口と、上記ラック投入口に供給された検体ラックを上記分析ユニットに搬送するラック搬送装置と、精度管理試料を設置したラックを格納可能なバッファを有し、複数の同一試薬ボトルを1分析ユニットに設置する際、当該使用試薬ボトルの試薬量が設定値以下になった時、上記バッファに設置してある精度管理試料を上記分析ユニットに供給して、該使用試薬ボトルの待機試薬ボトルに関して精度管理試料の測定を可能としたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
G01N35/00 ,  G01N35/04
FI (2件)：
G01N35/00 F ,  G01N35/04 A
Fターム (25件)：
2G058AA05 ,  2G058AA09 ,  2G058BB02 ,  2G058BB09 ,  2G058BB15 ,  2G058CB04 ,  2G058CD04 ,  2G058CD21 ,  2G058CF02 ,  2G058CF17 ,  2G058CF21 ,  2G058EA07 ,  2G058EB01 ,  2G058ED04 ,  2G058ED35 ,  2G058FA02 ,  2G058FB02 ,  2G058FB12 ,  2G058GA01 ,  2G058GB01 ,  2G058GC04 ,  2G058GD01 ,  2G058GD06 ,  2G058GE08 ,  2G058GE09
引用特許：
審査官引用 (10件)
  • 特開平4-065676
  • 自動分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-344131   出願人：株式会社東芝
  • 特開平4-065676
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