特許
J-GLOBAL ID：200903047378438944
太陽電池の特性評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-067538
公開番号（公開出願番号）：特開2004-281487
出願日： 2003年03月13日
公開日（公表日）： 2004年10月07日
要約：
【課題】太陽電池モジュールを構成する個々のセルのI-V特性を非破壊で推定できるようにする。【解決手段】太陽電池モジュール上に均等な光(例えば1sunの)を照射してI-V特性aを測定する。照射光の強度を変えずに被解析対象セルの上を適当な減光率の減光板を被せ、I-V特性bを測定する。「モジュールから当該被解析対象セルを除いた(短絡した)I-V特性c」を、特性aの電圧値を(n-1)/n倍した特性で近似する。これは、各セルに電圧が均等に分担されていることを仮定している。当該被解析対象セルの減光した状態でのI-V特性dは、同一電流値について特性bの電圧値から特性cの電圧値を減じた曲線にて推定される。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
n個のセルを直列接続した太陽電池モジュールにおいて、光照射下において任意のi(iは1以上n-1以下の整数)個の被解析対象セルに減光板を適用した減光モジュールI-V特性と減光板を外した非減光モジュールI-V特性とを測定し、非減光モジュールI-V特性に対し測定電圧に対してのみ(n-i)/nを掛けて得た推定モジュールI-V特性を算出して、同一電流値に対して減光モジュールI-V特性の電圧値から推定モジュールI-V特性の電圧値を減じてi個の被解析対象セルの減光条件下でのI-V特性を得ることを特徴とする太陽電池の特性評価方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01L31/04 K
, H01L31/04 C
