特許

J-GLOBAL ID：200903049234832632

光学フィルムの検査装置および光学フィルムの検査方法

発明者： 太田 久智 ,  中村 聡 ,  宇野 真彦
出願人/特許権者： 株式会社アドバンスト・ディスプレイ ,  三菱電機株式会社
代理人 (3件)： 朝日奈 宗太 ,  佐木 啓二 ,  秋山 文男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-054779
公開番号（公開出願番号）：特開2005-241586
出願日： 2004年02月27日
公開日（公表日）： 2005年09月08日
要約：

【課題】光学フィルムの検査を簡単な構成で行なうことが可能であり、欠陥の自動検出も容易に行なうことが可能な検査装置および検査方法を提供する。【解決手段】光学フィルム2に光を照射する点光源1と、前記点光源1から前記光学フィルム2を透過した光を投影させるスクリーン3と、前記スクリーン3上の投影像を撮像可能な撮像素子5と、前記撮像素子5による撮像画像の照度変化を検出する検出手段とを備えたことを特徴とする。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光学フィルムに光を照射する点光源と、 前記点光源から前記光学フィルムを透過した光を投影させるスクリーンと、 前記スクリーン上の投影像を撮像可能な撮像素子と、 前記撮像素子による撮像画像の照度変化を検出する検出手段と、 を備えたことを特徴とする光学フィルムの検査装置。

IPC (1件)：

G01N21/88

FI (1件)：

G01N21/88 Z

Fターム (7件)：

2G051AA41 ,  2G051AB02 ,  2G051BB07 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051CC07 ,  2G051CC20

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 偏光板検査装置およびその検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-167520   出願人：ソニー株式会社

審査官引用 (4件)

• 検査基体の欠陥検査方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-008797   出願人：三菱化学株式会社
• 表面検査方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-292057   出願人：コニカ株式会社
• 反射防止膜を付した物品の検査方法とその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-371587   出願人：澁谷工業株式会社
• 特開平2-083438