特許
J-GLOBAL ID：200903049387099594

質量分析方法及び質量分析装置

発明者：
山口 真一

山口 真一 について

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石原 盛男

石原 盛男 について

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豊田 岐聡

豊田 岐聡 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-349203
公開番号（公開出願番号）：特開2005-116343
出願日： 2003年10月08日
公開日（公表日）： 2005年04月28日
要約：
【課題】 周回軌道に乗せるイオンの質量範囲を限定することなく、途中で追いつきや追い抜きが生じたイオンの質量数を高い精度で決定する。 【解決手段】 目的とするイオンについて周回数に差が生じると想定される少なくとも2つの分析条件(Tg=500[μs]、400[μs])を設定してそれぞれ測定を行い、その2回の測定で得られる飛行時間スペクトル情報から飛行時間を求める。周回数自体は不明であるが、飛行時間から各周回数に対応した候補質量数を複数求めることができるから、2回の測定による飛行時間(525[μs]、441[μs])から求めた候補質量数を比較し、一致するものを選択してこれを質量数として決定する。これにより、周回軌道に乗せる以前に質量範囲を限定しなくとも、質量数を求めることができる。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
イオン源と、該イオン源から出発した各種イオンを飛行空間内に設定された所定の軌道に沿って複数回繰り返し飛行させるための飛行制御手段と、前記軌道を所定回数繰り返し飛行した後のイオンを検出する検出手段と、を具備する質量分析装置を用いた分析方法であって、 目的とするイオンについて周回数に差が生じると想定される少なくとも2つの分析条件を前記飛行制御手段により設定してそれぞれ測定を行い、その少なくとも2回の測定で前記検出手段によりそれぞれ飛行時間スペクトル情報を取得し、それら飛行時間スペクトル情報に基づいて目的とするイオンの質量数を推定することを特徴とする質量分析方法。
IPC (2件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62
FI (4件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 D ,  G01N27/62 E ,  G01N27/62 K
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (6件)
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