特許
J-GLOBAL ID:200903049669296341

品質管理方法、同システム、および同プログラムを記録した記録媒体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 吉田 研二 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-045099
公開番号(公開出願番号):特開2002-251212
出願日: 2001年02月21日
公開日(公表日): 2002年09月06日
要約:
【要約】【課題】 複数種類の下位部品の組み合わせによって製造される上位部品について、その品質不良の原因を的確に特定する。【解決手段】 完成品Cの測定データのグラフ301において良否欄311に「×」が表示されている完成品C、つまり名札番号「08」の完成品Cに着目し、この名札番号「08」の完成品Cの前後における完成品Cの測定データの変化と似た変化を示す組付品のグラフを、目視で下方にたどることにより探索する。組付品Bのグラフ303では、名札番号「08」の完成品Cに用いられた組付品Bの前後における寸法の変化が、完成品Cのグラフ301における変化と近似しているため、当該不良の原因が、完成品Cの組付工程や組付品Aにでなく、組付品Bにあることを特定できる。同様にして組付品Bの下位部品を探索し、不良原因が部品b2にあることを特定できる。
請求項(抜粋):
複数種類の下位部品を組み合わせて製造される上位部品の品質管理を行う方法であって、前記複数種類の下位部品のうち少なくともいずれかについての品質データを検出する下位部品データ検出工程と、前記上位部品についての品質データを検出する上位部品データ検出工程と、前記上位部品の品質データを所定の上位部品不良基準値と比較して、上位部品不良判定を行う上位部品評価工程と、上位部品不良判定が行われた場合に、前記下位部品の品質データに基づいて上位部品の不良原因を特定する原因特定工程と、を有する品質管理方法。
IPC (5件):
G05B 19/418 ,  B23P 21/00 307 ,  B62D 65/18 ,  B65G 61/00 300 ,  G06F 17/60 106
FI (5件):
G05B 19/418 Z ,  B23P 21/00 307 Z ,  B62D 65/18 D ,  B65G 61/00 300 ,  G06F 17/60 106
Fターム (11件):
3C030DA01 ,  3C030DA02 ,  3C030DA04 ,  3C030DA10 ,  3C100AA65 ,  3C100AA68 ,  3C100BB27 ,  3C100CC01 ,  3D114HA02 ,  3D114JA13 ,  3D114JA14
引用特許:
審査官引用 (5件)
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