特許
J-GLOBAL ID:200903050307221295

高分子化合物、ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 棚井 澄雄 ,  志賀 正武 ,  青山 正和 ,  鈴木 三義 ,  柳井 則子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-033008
公開番号(公開出願番号):特開2006-219555
出願日: 2005年02月09日
公開日(公表日): 2006年08月24日
要約:
【課題】 解像性に優れたパターンを形成できるポジ型レジスト組成物、該ポジ型レジスト組成物用として好適な高分子化合物、および該ポジ型レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法を提供する。【解決手段】 ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a1)と、下記一般式(a2-1)または(a2-2)[式中、Zは脂肪族環式基を表し;nは0または1〜3の整数を表し;mは0または1を表し;Rはそれぞれ独立して水素原子、炭素数1〜5の低級アルキル基、フッ素原子またはフッ素化低級アルキル基を表し;R1、R2はそれぞれ独立して水素原子または炭素数1〜5の低級アルキル基を表す。]で表される構成単位(a2)とを含むこと特徴とする高分子化合物。【化1】【選択図】 なし
請求項(抜粋):
ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a1)と、下記一般式(a2-1)または(a2-2)
IPC (4件):
C08F 212/14 ,  C08F 220/28 ,  G03F 7/039 ,  H01L 21/027
FI (4件):
C08F212/14 ,  C08F220/28 ,  G03F7/039 601 ,  H01L21/30 502R
Fターム (35件):
2H025AA02 ,  2H025AB16 ,  2H025AB17 ,  2H025AC04 ,  2H025AC05 ,  2H025AC06 ,  2H025AC08 ,  2H025AD03 ,  2H025BE00 ,  2H025BG00 ,  2H025CC20 ,  2H025FA12 ,  4J100AB02R ,  4J100AB03R ,  4J100AB04R ,  4J100AB07P ,  4J100AC53P ,  4J100AC53R ,  4J100AL08Q ,  4J100AL26Q ,  4J100BA02Q ,  4J100BA03P ,  4J100BA03Q ,  4J100BA04Q ,  4J100BA11Q ,  4J100BC04Q ,  4J100BC08Q ,  4J100BC09Q ,  4J100BC12Q ,  4J100BC43P ,  4J100BC43R ,  4J100BC53Q ,  4J100CA05 ,  4J100DA01 ,  4J100JA38
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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