特許
J-GLOBAL ID:200903050307221295
高分子化合物、ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (5件):
棚井 澄雄
, 志賀 正武
, 青山 正和
, 鈴木 三義
, 柳井 則子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-033008
公開番号(公開出願番号):特開2006-219555
出願日: 2005年02月09日
公開日(公表日): 2006年08月24日
要約:
【課題】 解像性に優れたパターンを形成できるポジ型レジスト組成物、該ポジ型レジスト組成物用として好適な高分子化合物、および該ポジ型レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法を提供する。【解決手段】 ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a1)と、下記一般式(a2-1)または(a2-2)[式中、Zは脂肪族環式基を表し;nは0または1〜3の整数を表し;mは0または1を表し;Rはそれぞれ独立して水素原子、炭素数1〜5の低級アルキル基、フッ素原子またはフッ素化低級アルキル基を表し;R1、R2はそれぞれ独立して水素原子または炭素数1〜5の低級アルキル基を表す。]で表される構成単位(a2)とを含むこと特徴とする高分子化合物。【化1】【選択図】 なし
請求項(抜粋):
ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a1)と、下記一般式(a2-1)または(a2-2)
IPC (4件):
C08F 212/14
, C08F 220/28
, G03F 7/039
, H01L 21/027
FI (4件):
C08F212/14
, C08F220/28
, G03F7/039 601
, H01L21/30 502R
Fターム (35件):
2H025AA02
, 2H025AB16
, 2H025AB17
, 2H025AC04
, 2H025AC05
, 2H025AC06
, 2H025AC08
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025BG00
, 2H025CC20
, 2H025FA12
, 4J100AB02R
, 4J100AB03R
, 4J100AB04R
, 4J100AB07P
, 4J100AC53P
, 4J100AC53R
, 4J100AL08Q
, 4J100AL26Q
, 4J100BA02Q
, 4J100BA03P
, 4J100BA03Q
, 4J100BA04Q
, 4J100BA11Q
, 4J100BC04Q
, 4J100BC08Q
, 4J100BC09Q
, 4J100BC12Q
, 4J100BC43P
, 4J100BC43R
, 4J100BC53Q
, 4J100CA05
, 4J100DA01
, 4J100JA38
引用特許: