特許
J-GLOBAL ID：200903050953606790
測定用構造体、測定装置、方法およびプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
細田 益稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-356720
公開番号（公開出願番号）：特開2007-163181
出願日： 2005年12月09日
公開日（公表日）： 2007年06月28日
要約：
【課題】電磁波が照射されることによって測定される被測定物を有利に取り扱う。【解決手段】XY平面において導体板10の導体で囲まれた空隙部12がX方向およびY方向に配列された格子1の表面に配置されたシート15に被測定物20が配置された一体型構造体2によって、開放部を有する容器の該開放部を覆い、テラヘルツ波を照射する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
開放部を有する容器と、
前記開放部を覆う一体型構造体と、
を備えた測定用構造体であって、
前記一体型構造体は、
電磁波を照射することにより特性が測定される被測定物と、
所定の平面において導体で囲まれた空隙部が配置された空隙配置構造体と、
前記空隙配置構造体の表面に配置され、前記被測定物が配置された配置部材と、
を備え、
前記容器の内部の空気が吸引され、
前記容器の内部とは、前記空隙配置構造体から見て前記配置部材とは反対側の空間である、
測定用構造体。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/01 B
, G01N21/35 Z
2G059AA02
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059DD13
, 2G059EE01
, 2G059HH01
出願人引用 (2件)
審査官引用 (9件)
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