特許

J-GLOBAL ID：200903053472645481

樹脂成形体の空洞検査方法

発明者： 西 重幸 ,  重森 景介 ,  小畑 秀文 ,  清水 昭伸
出願人/特許権者： 日立金属株式会社 ,  小畑 秀文 ,  清水 昭伸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-072076
公開番号（公開出願番号）：特開2003-266479
出願日： 2002年03月15日
公開日（公表日）： 2003年09月24日
要約：

【要約】【課題】 樹脂成形品に内在する空洞を信頼性高く、能率的に判別できるような検査方法を提供する。【解決手段】 樹脂成形体の透過画像から位置と明暗濃度のデータを求め、空洞が円状になるように位置データを変換し、濃度データをもとに濃度勾配ベクトルを求め、勾配ベクトル方向の集中度合いに応じて濃度データを増幅し、空洞部と周辺部の濃度差を強調することによって空洞を判別する。

請求項（抜粋）：

樹脂成形体の透過画像を空洞の縦横比が1に近づく方向に変換処理し、集中度フィルターを用いて空洞部明暗を周辺部明暗から顕在化させることによって空洞を判別することを特徴とする樹脂成形体の空洞検査方法。

IPC (2件)：

B29C 45/17 ,  G01N 23/04

FI (2件)：

B29C 45/17 ,  G01N 23/04

Fターム (19件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001FA01 ,  2G001FA08 ,  2G001GA04 ,  2G001GA06 ,  2G001KA04 ,  2G001LA05 ,  2G001LA20 ,  4F206AP06 ,  4F206AP19 ,  4F206AQ01 ,  4F206JA07 ,  4F206JP01 ,  4F206JP11 ,  4F206JP21 ,  4F206JW50

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 高分子材料製円筒体のX線による検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-065332   出願人：森川産業株式会社
• 画像処理方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-099954   出願人：三菱化学株式会社
• タイヤ検査方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-092750   出願人：横浜ゴム株式会社
• 特開昭61-020845
  
• 欠陥検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-368248   出願人：三菱化学株式会社

引用文献：

審査官引用 (2件)

• “こう配ベクトルの点集中性フィルタの特性解析”
• “不定形微小凸領域抽出のための領域拡張を伴うモフォロジカルフィルタとその医用画像処理への応用”