特許
J-GLOBAL ID：200903053518055374
表面保護フィルム及びその製造方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (8件)：
三好 秀和
, 三好 保男
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 栗原 彰
, 川又 澄雄
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-303433
公開番号（公開出願番号）：特開2004-142430
出願日： 2003年08月27日
公開日（公表日）： 2004年05月20日
要約：
【課題】 半導体素子表面の保護特性およびレーザーマーキングによる視認性が優れ、かつ欠陥の少ない表面保護フィルムを簡便に得ること。【解決手段】 基材層、樹脂層及び欠陥認識用フィルムをこの順に積層した構造を有してなる表面保護フィルムであって、前記樹脂層は、着色剤を含有し、かつ波長300〜1100nmの領域の光線透過率が10%以下であり、前記欠陥認識用フィルムと前記樹脂層との間に含まれる直径100μm以上の空隙の数が1m2あたり100個以下であることを特徴とする表面保護フィルム。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
基材層、樹脂層及び欠陥認識用フィルムをこの順に積層した構造を有してなる表面保護フィルムであって、
前記樹脂層は、着色剤を含有し、かつ波長300〜1100nmの領域の光線透過率が10%以下であり、
前記欠陥認識用フィルムと前記樹脂層との間に含まれる直径100μm以上の空隙の数が1m2あたり100個以下であることを特徴とする表面保護フィルム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (19件)：
4F100AK01B
, 4F100AK04
, 4F100AK53
, 4F100AR00C
, 4F100AT00A
, 4F100BA03
, 4F100BA07
, 4F100BA10A
, 4F100BA10C
, 4F100BA32
, 4F100BA32B
, 4F100BA32C
, 4F100CA13B
, 4F100GB41
, 4F100JK07C
, 4F100JL00
, 4F100JN08B
, 4F100YY00B
, 4F100YY00C
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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