特許
J-GLOBAL ID：200903055177620194

X線CT装置

発明者：
貫井 正健

貫井 正健 について


出願人/特許権者：
ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー

ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー について


代理人 (1件)： 井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-325036
公開番号（公開出願番号）：特開2002-143147
出願日： 2000年10月25日
公開日（公表日）： 2002年05月21日
要約：
【要約】【課題】 照射位置誤差の影響を除去する補正の副作用をなくす。【解決手段】 初期の照射位置誤差を計算(113)して許容値と比較(115)し、その結果に基づいて補正制御部117で補正部109を制御することにより、照射位置誤差が許容値以内のときは補正を行わず、照射位置誤差が許容値を越えるときに補正を行う。
請求項（抜粋）：
焦点から発散するX線を発生するX線管と、前記X線を扇状のビームに整形するコリメータと、複数のX線検出素子を前記扇状のビームの広がりの方向に配列してなる検出素子列を前記扇状のビームの厚みの方向に複数個配設してなる検出素子アレイと、前記検出素子アレイにおける前記検出素子列の配設方向での前記扇状のビームの照射位置を検出する照射位置検出手段と、前記検出した照射位置に基づいて前記扇状のビームの照射位置が予め設定された照射位置となるように前記コリメータを制御する第1の照射位置制御手段と、X線照射開始時の前記焦点の位置を予測して扇状のビームの照射位置が前記予め設定された照射位置となるように前記コリメータを制御する第2の照射位置制御手段と、前記X線管、前記コリメータおよび前記検出素子アレイを含むX線照射・検出系を前記扇状のビームの厚みの方向に平行な軸の周りを回転させて複数ビューのX線検出信号を獲得する信号獲得手段と、前記獲得したX線検出信号についてX線照射開始時における照射位置の不正確さの影響を除去する補正を行う補正手段と、X線照射開始時の照射位置と前記予め設定された照射位置との誤差を求める誤差計算手段と、前記誤差を予め定めた許容値と比較する比較手段と、前記誤差が前記予め定めた許容値以内のときは前記補正を行わせず、前記誤差が前記予め定めた許容値を越えるときに前記補正を行わせる補正制御手段と、前記補正手段を通じて与えられるX線検出信号に基づき前記扇状のビームが通過したスライスについての断層像を生成する断層像生成手段と、を具備することを特徴とするX線CT装置。
IPC (3件)：
A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03
FI (3件)：
A61B 6/03 350 G ,  A61B 6/03 320 K ,  A61B 6/03 320 Y
Fターム (12件)：
4C093AA22 ,  4C093CA05 ,  4C093CA13 ,  4C093EA02 ,  4C093EA14 ,  4C093EB18 ,  4C093EB28 ,  4C093FA16 ,  4C093FA43 ,  4C093FC22 ,  4C093FC27 ,  4C093FD12
引用特許：
審査官引用 (9件)
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