特許
J-GLOBAL ID:200903073960146029

X線照射位置合わせ方法並びにX線断層撮影方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井島 藤治 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-331134
公開番号(公開出願番号):特開2000-152925
出願日: 1998年11月20日
公開日(公表日): 2000年06月06日
要約:
【要約】【課題】 スキャン開始当初からX線照射位置を定位置に一致させるX線照射位置合わせ方法、並びに、そのようにX線照射位置合わせをして撮影を行うX線断層撮影方法および装置を実現する。【解決手段】 X線照射・検出装置により被検体をスキャンするに当たり、スキャン開始前のX線管20の温度およびこれから行おうとするスキャン条件に基づきX線焦点の位置を予測し、X線がX線検出器24の定位置に照射するようにコリメータ22またはX線検出器24の位置を調節する。
請求項(抜粋):
X線管から発生したX線をコリメータを通してX線検出器に照射するX線照射・検出装置により被検体をスキャンして断層撮影を行うに当たり、スキャン開始前の前記X線管の温度およびこれから行おうとするスキャン条件に基づき前記X線管におけるX線焦点の位置を予測し、前記X線管から発生したX線が前記X線検出器における定位置に照射するように前記予測した位置に応じて前記コリメータおよび前記X線検出器のうちのいずれか一方または両方の位置を調節する、ことを特徴とするX線照射位置合わせ方法。
IPC (4件):
A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 ,  A61B 6/03 331 ,  A61B 6/03 350
FI (4件):
A61B 6/03 320 P ,  A61B 6/03 320 H ,  A61B 6/03 331 ,  A61B 6/03 350 G
Fターム (8件):
4C093AA22 ,  4C093BA03 ,  4C093CA13 ,  4C093EA14 ,  4C093EB18 ,  4C093EB21 ,  4C093FA45 ,  4C093FA54
引用特許:
審査官引用 (4件)
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