特許
J-GLOBAL ID:200903055479050192
レジスト組成物およびレジストパターン形成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
棚井 澄雄
, 志賀 正武
, 鈴木 三義
, 柳井 則子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-139709
公開番号(公開出願番号):特開2009-288441
出願日: 2008年05月28日
公開日(公表日): 2009年12月10日
要約:
【課題】リソグラフィー用途に使用可能な新規なレジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が変化する基材成分(A)、および露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するレジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、下記一般式(a0-1)で表される構成単位(a0)を有する高分子化合物(A1)を含有することを特徴とするレジスト組成物。【選択図】なし
請求項(抜粋):
酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が変化する基材成分(A)、および露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するレジスト組成物であって、
前記基材成分(A)が、下記一般式(a0-1)で表される構成単位(a0)を有する高分子化合物(A1)を含有することを特徴とするレジスト組成物。
IPC (5件):
G03F 7/038
, G03F 7/004
, G03F 7/039
, C08F 20/38
, H01L 21/027
FI (5件):
G03F7/038 601
, G03F7/004 501
, G03F7/039 601
, C08F20/38
, H01L21/30 502R
Fターム (45件):
2H025AA02
, 2H025AB16
, 2H025AC04
, 2H025AC05
, 2H025AC06
, 2H025AC08
, 2H025AD01
, 2H025BE07
, 2H025CB14
, 2H025CC17
, 2H025CC20
, 2H025FA12
, 2H025FA17
, 4J100AL03Q
, 4J100AL08P
, 4J100AL08Q
, 4J100AL08R
, 4J100AL16P
, 4J100AL26P
, 4J100AL26Q
, 4J100BA02P
, 4J100BA02Q
, 4J100BA03R
, 4J100BA11P
, 4J100BA11R
, 4J100BA15Q
, 4J100BA55P
, 4J100BB18P
, 4J100BC02Q
, 4J100BC03Q
, 4J100BC04P
, 4J100BC04Q
, 4J100BC07Q
, 4J100BC08P
, 4J100BC09P
, 4J100BC09Q
, 4J100BC12P
, 4J100BC12Q
, 4J100BC15R
, 4J100BC52R
, 4J100BC53P
, 4J100BC53R
, 4J100CA04
, 4J100CA05
, 4J100JA46
引用特許: