蛍光強度測定方法および装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：梶山佶是 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-159178
公開番号（公開出願番号）：特開2003-207450
出願日： 2002年05月31日
公開日（公表日）： 2003年07月25日
要約：

【要約】【課題】バックグランドノイズに影響されずに、蛍光強度の時間変化特性を精度よく測定することができる蛍光強度測定方法および装置を提供することにある。【解決手段】この発明は、画像撮像部により撮像されたキャピラリ画像の所定の位置に所定の大きさの領域を設定して、キャピラリ内を泳動するサンプルに励起光を照射してサンプルが発する蛍光光の画像を採取して、領域内の蛍光光の平均値を算出してこの平均値による時間-蛍光強度の特性を測定するものである。

請求項（抜粋）：

マイクロチップのキャピラリ画像を採取してこの画像から蛍光強度を測定する蛍光強度測定方法において、画像撮像部により撮像された前記キャピラリ画像の所定の位置に所定の大きさの領域を設定して、前記キャピラリ内を泳動する試料に励起光を照射し、前記試料が発する蛍光光の前記画像を採取して、採取された前記画像に基づいて前記領域内の蛍光光の強度の平均値を算出してこの平均値による時間-蛍光強度の特性測定をすることを特徴とする蛍光強度測定方法。

IPC (3件)：

G01N 21/64 , G01N 27/447 , G01N 37/00 101

FI (5件)：

G01N 21/64 B , G01N 21/64 F , G01N 37/00 101 , G01N 27/26 331 E , G01N 27/26 331 K

Fターム (20件)：

2G043AA01 , 2G043BA16 , 2G043CA03 , 2G043DA05 , 2G043EA01 , 2G043EA19 , 2G043FA01 , 2G043FA03 , 2G043GA08 , 2G043GB28 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA11 , 2G043HA15 , 2G043JA02 , 2G043KA02 , 2G043KA05 , 2G043LA03 , 2G043NA01 , 2G043NA06

引用特許：

出願人引用 (6件)

DNA塩基配列決定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-264320 出願人：日立電子エンジニアリング株式会社
光検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-144414 出願人：浜松ホトニクス株式会社
分光器
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-326541 出願人：株式会社東京インスツルメンツ

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審査官引用 (6件)

DNA塩基配列決定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-264320 出願人：日立電子エンジニアリング株式会社
光検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-144414 出願人：浜松ホトニクス株式会社
分光器
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-326541 出願人：株式会社東京インスツルメンツ

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