光測定方法及び装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：倉橋暎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-327023
公開番号（公開出願番号）：特開2002-202254
出願日： 2001年10月24日
公開日（公表日）： 2002年07月19日
要約：

【要約】【課題】遮光状態における光検出手段の出力の温度による変動の影響を最小限に抑えることができる光測定方法及び装置を提供する。【解決手段】光測定方法は、予め光検出手段の周囲の温度と遮光状態における光検出手段の出力との関係を測定して記憶し、記憶した関係に基づき、光検出手段が光検出した際の出力に対する遮光状態での光検出手段の出力の影響を補正する構成とされる。

請求項（抜粋）：

予め光検出手段の周囲の温度と遮光状態における前記光検出手段の出力との関係を測定して記憶し、記憶した前記関係に基づき、前記光検出手段が光検出した際の出力に対する遮光状態での前記光検出手段の出力の影響を補正することを特徴とする光測定方法。

IPC (4件)：

G01N 21/27 , G01J 1/42 , G01N 21/59 , G01N 21/76

FI (4件)：

G01N 21/27 F , G01J 1/42 Q , G01N 21/59 Z , G01N 21/76

Fターム (51件)：

2G054AB07 , 2G054CA21 , 2G054CB03 , 2G054CE02 , 2G054FA12 , 2G054FA19 , 2G054FA22 , 2G054FA27 , 2G054FA32 , 2G054JA01 , 2G054JA05 , 2G054JA08 , 2G059AA01 , 2G059EE01 , 2G059EE06 , 2G059EE11 , 2G059FF12 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059HH03 , 2G059JJ02 , 2G059JJ11 , 2G059KK02 , 2G059KK03 , 2G059MM01 , 2G059MM09 , 2G059MM10 , 2G059MM15 , 2G059MM17 , 2G059NN02 , 2G059NN08 , 2G059PP01 , 2G059PP04 , 2G065AB02 , 2G065AB04 , 2G065AB05 , 2G065AB23 , 2G065AB27 , 2G065BA07 , 2G065BA09 , 2G065BA18 , 2G065BC13 , 2G065BC16 , 2G065BC28 , 2G065BC33 , 2G065BC35 , 2G065BD02 , 2G065BD08 , 2G065CA21 , 2G065DA08 , 2G065DA15

引用特許：

審査官引用 (14件)

リニアセンサの暗電流雑音補正方法及び暗電流雑音補正回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-340453 出願人：キヤノン株式会社
特開昭63-157020
特開昭63-096540

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