質量分析計に関する改良

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：吉田研二 , 石田純
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-503592
公開番号（公開出願番号）：特表2008-536263
出願日： 2006年03月29日
公開日（公表日）： 2008年09月04日
要約：

本発明は、未反応イオンと反応生成物イオンの両方から質量スペクトルを収集する、反応セルを含む質量分析計に関する。より詳細には(但し、他を除くものではない)、本発明は、前駆物質およびフラグメントイオンから質量スペクトルを収集するタンデム型質量分析法に使用できることが分かった。本発明は、イオンを、質量分析器へ送る前に、フラグメント化またはその他の処理のための反応セルへ送る配置を提示する。あるいは、イオンは、迂回経路に沿って質量分析器へ直接進むことができる。

請求項（抜粋）：

イオン源と、反応セルと、質量分析器と、を含む質量分析計であって、前記質量分析計は、主イオン経路と枝イオン経路とを有し、前記主イオン経路は、前記イオン源と前記質量分析器との間に伸び、前記主イオン経路は、前記主イオン経路または前記枝イオン経路のいずれかに沿って、イオンが前記イオン源から下流へ移動するように選択的に導くよう操作可能なイオン光学系(optics)から成る接合部において前記枝イオン経路と交わり、前記枝イオン経路は、前記接合部、あるいは、前記主イオン経路および前記枝イオン経路の両方から流入するイオンを前記質量分析器へ向けて導くよう操作可能な追加のイオン光学系から成る追加の接合部のいずれかにおいて、前記質量分析器の上流の前記主イオン経路に合流し、前記反応セルは、前記枝イオン経路の別の部分に置かれ、前記質量分析器のすぐ上流の前記イオン光学系は、イオンのパルスを前記主イオン経路に沿って前記質量分析器へ導くよう操作可能である、ことを特徴とする質量分析計。

IPC (3件)：

H01J 49/06 , G01N 27/62 , H01J 49/42

FI (4件)：

H01J49/06 , G01N27/62 E , G01N27/62 G , H01J49/42

Fターム (24件)：

2G041CA01 , 2G041DA02 , 2G041DA04 , 2G041DA05 , 2G041DA09 , 2G041DA13 , 2G041DA16 , 2G041DA18 , 2G041GA02 , 2G041GA03 , 2G041GA05 , 2G041GA06 , 2G041GA08 , 2G041GA09 , 2G041GA13 , 2G041GA29 , 2G041GA30 , 2G041KA01 , 5C038FF07 , 5C038FF10 , 5C038FF13 , 5C038JJ02 , 5C038JJ05 , 5C038JJ11

引用特許：

出願人引用 (6件)

米国特許第6285027B1号
米国特許出願公開第2002/115,056号
米国特許出願公開第2002/119,490号

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審査官引用 (8件)

飛行時間型質量分析計
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-075151 出願人：日本電子株式会社
飛行時間型質量分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-319940 出願人：日本電子株式会社
電子捕獲解離反応装置及び電子捕獲解離を備えた質量分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-160861 出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ

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