特許
J-GLOBAL ID:200903060331142830
光学部材検査方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
松岡 修平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-017775
公開番号(公開出願番号):特開2003-215062
出願日: 2002年01月25日
公開日(公表日): 2003年07月30日
要約:
【要約】【課題】 レンズ等の光学部材の品質を検査するための画像検査装置における光学部材検査方法であって、撮影した画像に平行縞状の濃淡模様が現れるような被検物に対しても不良要因の評価をより厳密に行うことが可能な光学部材検査方法を提供することである。【解決手段】 光学部材検査方法は、濃淡模様が現れるような撮影画像を生成し、画像の濃淡模様の濃淡変化の方向に垂直に画像を複数枚に分割し、分割された画像のそれぞれについて濃淡模様の濃淡変化に平行な方向の平均値を取って1次元のデータを生成し、1次元のデータから直流成分を除去し、この直流成分を除去された1次元のデータを用いて所定の評価基準に基づいて被検物の品質を評価する。
請求項(抜粋):
光学部材の品質を検査するための画像検査装置における光学部材検査方法であって、特に撮影した画像に平行縞状の濃淡模様が現れる被検物の品質を検査する方法であり、該光学部材検査方法が、前記周期的な濃淡模様が現れるような撮影画像を生成する、画像生成ステップと、前記画像の濃淡模様の濃淡変化の方向に垂直に前記画像を複数枚に分割する、分割ステップと、前記分割ステップにて分割された画像のそれぞれについて、濃淡模様の濃淡変化に平行な方向の平均値を取って1次元のデータを生成する、1次元化ステップと、前記1次元化ステップにて生成された1次元のデータから直流成分を除去する直流成分除去ステップと、前記直流成分ステップにて直流成分を除去された1次元のデータを用いて、所定の評価基準に基づいて前記被検物の品質を評価する、評価ステップと、を有することを特徴とする、光学部材検査方法。
IPC (4件):
G01N 21/958
, G01B 11/30
, G01M 11/00
, G06T 1/00 300
FI (4件):
G01N 21/958
, G01B 11/30 Z
, G01M 11/00 L
, G06T 1/00 300
Fターム (61件):
2F065AA49
, 2F065AA61
, 2F065BB05
, 2F065BB22
, 2F065CC22
, 2F065FF04
, 2F065HH12
, 2F065JJ03
, 2F065JJ09
, 2F065JJ26
, 2F065LL02
, 2F065QQ05
, 2F065QQ31
, 2F065QQ42
, 2F065UU05
, 2G051AA90
, 2G051AB01
, 2G051AB02
, 2G051BA20
, 2G051BB17
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051DA07
, 2G051DA13
, 2G051EA11
, 2G051EA12
, 2G051EA20
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051EC01
, 2G051EC02
, 2G051EC03
, 2G051ED07
, 2G051ED23
, 2G051FA10
, 2G086FF05
, 5B057AA04
, 5B057BA02
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB06
, 5B057CB08
, 5B057CB11
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC02
, 5B057CE08
, 5B057CE12
, 5B057DA03
, 5B057DA13
, 5B057DB01
, 5B057DB02
, 5B057DB05
, 5B057DB08
, 5B057DC04
, 5B057DC14
, 5B057DC22
引用特許:
出願人引用 (6件)
-
表面欠陥検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-316354
出願人:川崎製鉄株式会社
-
特開平2-073140
-
表面疵検査方法及びその装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-064015
出願人:日本鋼管株式会社
-
光学部材検査装置および検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-189853
出願人:旭光学工業株式会社
-
光学部材検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-332165
出願人:ペンタックス株式会社
-
光学部材検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-331262
出願人:ペンタックス株式会社
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審査官引用 (4件)