特許
J-GLOBAL ID：200903060441352423
鏡面光沢予測装置、鏡面光沢予測方法、鏡面光沢予測装置の制御プログラム、および、記録媒体
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人原謙三国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-210525
公開番号（公開出願番号）：特開2006-153846
出願日： 2005年07月20日
公開日（公表日）： 2006年06月15日
要約：
【課題】 濃度の薄い画像や低光沢の画像においても、2色性反射モデルによって鏡面光沢度を正確に予測することのできる鏡面光沢予測装置を実現する。【解決手段】 本発明の鏡面光沢予測装置は、基材と上記基材上に形成された色材層とからなる試料の所定のジオメトリにおける輝度値を測定し、この測定結果から全ての(他の)ジオメトリにおける鏡面反射光量を予測することによって、鏡面光沢度を予測するものである。鏡面光沢予測装置100は、基材で反射され色材層を透過して放射される下層反射光成分を算出する下層反射光成分算出部111と、色材層の内部で反射される内部反射光成分を作成する内部反射光成分作成部112と、色材層の表面で反射される表面反射光成分を作成する表面反射光成分作成部113と、上記各部で作成された各成分を加算することによって試料の鏡面反射光量を求める鏡面反射光量算出部114とを備えている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
基材と上記基材上に形成された色材層とからなる試料の所定のジオメトリにおける輝度値を測定し、この測定結果から他のジオメトリにおける鏡面反射光量を予測することによって鏡面光沢度を予測する鏡面光沢予測装置であって、
複数のジオメトリにおいて測定される上記基材のみの輝度値に基づいて、上記基材で反射され上記色材層を透過して放射される下層反射光成分を算出する下層反射光成分作成部と、
所定のジオメトリにおいて試料の輝度値を測定し、測定した輝度値および上記下層反射光成分に基づいて、上記色材層の内部で反射される内部反射光成分を作成する内部反射光成分作成部と、
所定のジオメトリにおいて試料の輝度値を測定し、測定した輝度値、上記下層反射光成分、および上記内部反射光成分に基づいて、上記色材層の表面で反射される表面反射光成分を作成する表面反射光成分作成部と、
上記下層反射光成分作成部、上記内部反射光成分作成部、および、上記表面反射光成分作成部で作成された各成分に基づいて試料の鏡面反射光量を求める鏡面反射光量算出部とを備えることを特徴とする鏡面光沢予測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (12件)：
2G059AA02
, 2G059BB10
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE04
, 2G059EE11
, 2G059EE13
, 2G059GG10
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059MM10
, 2G059PP04
出願人引用 (1件)
審査官引用 (5件)
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