特許
J-GLOBAL ID：200903060472496504

半導体試験装置の波形整形回路

発明者：
蛯谷 公一

蛯谷 公一 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-336075
公開番号（公開出願番号）：特開平8-179012
出願日： 1994年12月22日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：
【要約】【目的】 パターン発生周期より速い周期のNRZ波形を整形する回路を実現する。【構成】 タイミング信号であるACLK及びBCLKを発生するタイミング発生器10と、パターン発生器11の出力を入力とし、ACLK及びBCLKに対応したパターンであるPATA及びPATBを出力とするプログラマブル・データ・セレクタ22と、ACLK及びBCLKの波形整形部23への入力を制御するENBA及びENBBを出力する禁止回路26と、ACLK及びBCLK、ENBA及びENBB、PATA及びPATBを入力として、ST及びRSTを出力する波形整形部23と、ST及びRSTをそれぞれ入力とした2個の後縁微分回路14の出力ST1及びRST1によってセット及びリセットし、NRZ波形を出力するSRフリップフロップ15とで構成される。禁止回路26は、同じパターンが連続したとき、2つ目のパターンのCLKを禁止している。
請求項（抜粋）：
タイミング信号であるACLK及びBCLKを発生するタイミング発生器(10)を設け、パターン発生器(11)の出力を入力とし、ACLK及びBCLKに対応したパターンであるPATA及びPATBを出力とするプログロマブル・データ・セレクタ(22)を設け、ACLK及びBCLKの波形整形部(23)への入力を制御するENBA及びENBBを出力する禁止回路(26)を設け、ACLK及びBCLK、ENBA及びENBB、PATA及びPATBを入力として、ST及びRSTを出力する波形整形部(23)を設け、ST及びRSTをそれぞれ入力とした2個の後縁微分回路(14)の出力ST1及びRST1によってセット及びリセットし、NRZ波形を出力するSRフリップフロップ(15)を設け、以上を具備することを特徴とする半導体試験装置の波形整形回路。
IPC (3件)：
G01R 31/28 ,  H03K 19/00 ,  H03M 5/06
FI (2件)：
G01R 31/28 M ,  G01R 31/28 P
引用特許：
出願人引用 (13件)
  • 特開平1-167683
  • 特開平2-067977
  • 半導体試験装置の波形整形回路
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-008100   出願人：株式会社アドバンテスト
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