特許
J-GLOBAL ID:200903063857739601
二次電池の検査方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
大川 宏
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-154199
公開番号(公開出願番号):特開2002-352864
出願日: 2001年05月23日
公開日(公表日): 2002年12月06日
要約:
【要約】【課題】 安全かつ低コストで二次電池を検査できる二次電池の検査方法を提供すること。【解決手段】 本発明の二次電池の検査方法は、初期充放電処理が施された二次電池に、初期充放電処理の初期充放電電流より大きな電流値を有する充放電電流での充放電を行う充放電工程と、充放電工程が施された二次電池の電池特性の変化を測定する測定工程と、を有することを特徴とする。本発明の二次電池の検査方法は、初期充放電電流より大きな電流値を有する充放電電流で充放電を行うことで、電池内の微小な短絡箇所および将来短絡につながる可能性がある部分が短絡させて、電池特性の低下を引き起こしているため、短時間で二次電池の検査を行うことができる。
請求項(抜粋):
初期充放電処理が施された二次電池に、該初期充放電処理の初期充放電電流より大きな電流値を有する充放電電流での充放電を行う充放電工程と、該充放電工程が施された該二次電池の電池特性の変化を測定する測定工程と、を有することを特徴とする二次電池の検査方法。
IPC (4件):
H01M 10/48
, G01R 31/36
, H01M 10/40
, H02J 7/00
FI (4件):
H01M 10/48 P
, G01R 31/36 A
, H01M 10/40 Z
, H02J 7/00 Q
Fターム (34件):
2G016CB05
, 2G016CB11
, 2G016CB12
, 2G016CB21
, 2G016CB31
, 2G016CC01
, 2G016CC23
, 2G016CF06
, 5G003BA01
, 5G003CA03
, 5G003DA07
, 5G003EA09
, 5H029AJ14
, 5H029AK03
, 5H029AL06
, 5H029AL07
, 5H029AM03
, 5H029AM05
, 5H029AM07
, 5H029BJ02
, 5H029BJ14
, 5H029HJ14
, 5H029HJ18
, 5H029HJ19
, 5H030AA06
, 5H030AA10
, 5H030AS20
, 5H030BB01
, 5H030BB21
, 5H030FF22
, 5H030FF41
, 5H030FF42
, 5H030FF43
, 5H030FF44
引用特許:
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