特許
J-GLOBAL ID：200903064250489513
質量分析システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
平木 祐輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-017255
公開番号（公開出願番号）：特開2007-198882
出願日： 2006年01月26日
公開日（公表日）： 2007年08月09日
要約：
【課題】1台の質量分析装置を用いて、前駆イオンのマスクロマトグラムを予測し、良好なMSnデータを得られる可能性が高いタイミングでMSnを実行することができる質量分析システムを提供する。【解決手段】試料の分離手段と質量分析手段から構成される質量分析システムにおいて、n回目までのサンプル測定で得られたMS1データから全イオン種溶出パターンを算出し、前記イオン種溶出パターンとMSnデータとを基にn+1回目のサンプル測定時に質量分析するイオン種の優先順位を決定する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
試料の分離手段と、前記分離手段により分離された試料を質量分析する質量分析手段とを含む質量分析システムにおいて、
前記質量分析手段は、
n(nは1以上の整数)回目の質量分析において、イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータと、特定のイオン種を選択的に解離させ質量分析して得られるデータとを含むマススペクトルデータを生成する手段と、
前記イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータから全てのイオン種の溶出パターンを算出するイオン種溶出パターン算出手段と、
前記イオン種溶出パターンと前記マススペクトルデータとに基づいて、n+1回目の質量分析の対象となるイオン種の優先順位を決定する分析優先順位決定手段とを備えることを特徴とする質量分析システム。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N27/62 D
, G01N27/62 X
, H01J49/26
2G041CA01
, 2G041DA02
, 2G041DA04
, 2G041DA05
, 2G041DA09
, 2G041DA13
, 2G041DA14
, 2G041DA16
, 2G041DA18
, 2G041GA03
, 2G041GA05
, 2G041GA06
, 2G041GA08
, 2G041GA10
, 2G041GA26
, 2G041HA01
, 2G041HA02
, 2G041LA06
, 2G041MA05
, 5C038EE02
, 5C038EF11
, 5C038EF33
出願人引用 (2件)
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質量分析システム
公報種別：公開公報
出願番号：特願2004-152693
出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
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液体クロマトグラフ質量分析計
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-385160
出願人：株式会社島津製作所
審査官引用 (5件)
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