特許
J-GLOBAL ID：200903067448946188
電磁波発生源探査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-075364
公開番号（公開出願番号）：特開2002-277500
出願日： 2001年03月16日
公開日（公表日）： 2002年09月25日
要約：
【要約】【課題】測定対象である電子回路基板や電子機器上の電流分布において、どの点を流れる電流が遠方電界を発生させる要因であるか不明であった。また、任意の点を流れる電流の変化が遠方電界をどのように変化させるか不明であった。【解決手段】測定対象である電子回路基板や電子機器上のすべての電流による遠方電界を測定または計算により求め、これに測定対象である電子回路基板や電子機器上の個々の電流による電界との差分を求めることで、この点における電流の遠方電界を発生する寄与率を算出する。また、電流分布に係数を掛けて遠方電界を求めることで、測定対象である電子回路基板や電子機器上の電流を変化させた場合の遠方電界の変化を推定する。
請求項（抜粋）：
測定対象の有する電流分布から観測点における第一の電界強度を算出するステップと、該測定対象の電流分布の一部であって該測定対象上の所定位置にある電流分布を用いて該観測点における第二の電界強度を算出するステップと、該第二の電界強度に対して該第一の電界強度が関連する割合を算出するステップとを備えたことを特徴とする電磁波発生源探査方法。
FI (2件)：
G01R 29/10 E
, G01R 29/10 Z
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (1件)
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