特許

J-GLOBAL ID：200903068754468296

アクティブマトリクス型液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置

発明者： 鎌田 豪 ,  大野 泰弘
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 森岡 正樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-231872
公開番号（公開出願番号）：特開2003-043521
出願日： 2001年07月31日
公開日（公表日）： 2003年02月13日
要約：

【要約】【課題】本発明は、画素毎にスイッチング素子を有するアクティブマトリクス型液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置に関し、欠陥が生じている位置を容易かつ確実に検出でき、製造歩留まりを向上できるアクティブマトリクス型液晶表示装置用基板及びそれを備えた液晶表示装置を提供することを目的とする。【解決手段】ガラス基板と、ゲートバスライン6と、ドレインバスライン8と、画素領域と、TFT10と、画素電極12と、ドレインバスライン8に生じた第1の欠陥の断線部28を修復するために形成されたリペア配線34a、34b、34cと、断線部28の修復の失敗により新たに生じた第2の欠陥の位置を検出するためにリペア配線34a、34b、34c近傍に形成された欠陥位置検出用画素領域38a、38b、38b’、38cとを有するように構成する。

請求項（抜粋）：

絶縁性を有する基板と、前記基板上に形成されたゲートバスラインと、前記ゲートバスラインにほぼ直交して形成されたドレインバスラインと、前記ゲートバスライン及び前記ドレインバスラインで画定された画素領域と、前記画素領域毎に形成された薄膜トランジスタと、前記画素領域に形成された画素電極と、前記ドレインバスラインに生じた第1の欠陥を修復するために形成されたリペア配線と、前記第1の欠陥の修復の失敗により新たに生じた第2の欠陥の位置を検出するために前記リペア配線近傍に形成された欠陥位置検出用画素領域とを有することを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示装置用基板。

IPC (6件)：

G02F 1/1368 ,  G09F 9/00 352 ,  G09F 9/30 330 ,  G09F 9/30 338 ,  G09F 9/35 ,  H01L 29/786

FI (6件)：

G02F 1/1368 ,  G09F 9/00 352 ,  G09F 9/30 330 Z ,  G09F 9/30 338 ,  G09F 9/35 ,  H01L 29/78 612 A

Fターム (78件)：

2H092JA24 ,  2H092JA46 ,  2H092JB62 ,  2H092KA04 ,  2H092KA05 ,  2H092KA18 ,  2H092KB04 ,  2H092MA08 ,  2H092MA47 ,  2H092MA50 ,  2H092MA55 ,  2H092MA56 ,  2H092NA12 ,  2H092NA27 ,  2H092NA29 ,  2H092NA30 ,  5C094AA42 ,  5C094AA43 ,  5C094AA48 ,  5C094BA03 ,  5C094BA43 ,  5C094CA19 ,  5C094CA24 ,  5C094DA13 ,  5C094EA01 ,  5C094EA03 ,  5C094EA04 ,  5C094EA05 ,  5C094EB02 ,  5C094ED03 ,  5C094ED14 ,  5C094FA01 ,  5C094FB12 ,  5C094FB14 ,  5C094FB15 ,  5C094GB10 ,  5F110AA27 ,  5F110BB01 ,  5F110CC01 ,  5F110CC05 ,  5F110CC07 ,  5F110DD02 ,  5F110EE03 ,  5F110EE04 ,  5F110EE14 ,  5F110EE44 ,  5F110FF03 ,  5F110FF30 ,  5F110GG02 ,  5F110GG13 ,  5F110GG15 ,  5F110GG45 ,  5F110HK03 ,  5F110HK04 ,  5F110HK09 ,  5F110HK16 ,  5F110HK21 ,  5F110HK22 ,  5F110HK33 ,  5F110HK35 ,  5F110HL07 ,  5F110NN02 ,  5F110NN12 ,  5F110NN24 ,  5F110NN35 ,  5F110NN72 ,  5F110NN73 ,  5G435AA17 ,  5G435BB12 ,  5G435CC09 ,  5G435CC12 ,  5G435FF05 ,  5G435GG12 ,  5G435HH12 ,  5G435HH13 ,  5G435HH14 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10

引用特許：

審査官引用 (6件)

• 液晶パネルの検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-121406   出願人：株式会社アドバンスト・ディスプレイ
• アクティブマトリクスアレイ検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-215708   出願人：東亜電波工業株式会社
• 液晶表示パネル及びその製造方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-271651   出願人：富士通株式会社
• 断線修復用配線を有する薄膜トランジスタマトリクス及び断線・短絡修復方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-081120   出願人：富士通株式会社
• マトリックス型表示装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-229446   出願人：三菱電機株式会社
• 液晶表示装置およびその断線補修方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-275220   出願人：日本電気株式会社